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簡介：CNC機床、CMM、導螺桿及DRO直線校驗

簡介：1D激光主要可以測量定位誤差3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角

簡介：雷尼紹renishaw激光干涉儀XL-80雷尼紹Renishaw的新型XL-80激光干涉儀能夠滿足和超越實際工業(yè)規(guī)范水平，提供4m/szui大的測量速度和50kHz記錄速率。即使在zui高的數(shù)據(jù)記...

簡介：供應德國Jenaer公司生產(chǎn)的雙頻激光干涉儀。

簡介：低價格的小型LD干涉儀。用于多種少量的小型鏡片的生產(chǎn)現(xiàn)場上的快速品質(zhì)檢查。通過簡單操作來進行檢查。

簡介：低價格的小型LD干涉儀。手掌大小、操作簡便。只要放置被檢鏡片，便可簡單迅速地進行測定。

簡介：透過波面測定干涉儀KIF-PU是解析光學部品的透過波面像差的干涉儀系統(tǒng)。特別在光讀取頭用的生產(chǎn)線中，是評價對物透鏡以及準直透鏡的透過波面的系統(tǒng)。

簡介：應用了KIF-10A，用于測量光圈數(shù)目的測定儀。通過光圈數(shù)目與元器的比較，可簡單地短時間內(nèi)進行測定。因采用非接觸的測定方式，不用擔心會破壞鏡片面以及元器。是在制造現(xiàn)場的工序測定中*的新檢測工具。

簡介：使用在生產(chǎn)制造顯微鏡·光學拾波等過程中培育的小口徑測量技術(shù)，開發(fā)而來的使用簡單小型干涉儀。

簡介：安裝在KIF-202/KIF-402系列干涉儀上，通過條紋掃描方式取得被測物的波面相位并顯示且保存測定結(jié)果的干涉條紋解析系統(tǒng)。用于*以及生產(chǎn)現(xiàn)場中對平面以及球面的面精度進行定量評價。