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KIF-PU 透過波面測定干涉儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準

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透過波面測定干涉儀KIF-PU是解析光學部品的透過波面像差的干涉儀系統(tǒng)。特別在光讀取頭用的生產(chǎn)線中,是評價對物透鏡以及準直透鏡的透過波面的系統(tǒng)。

詳細信息 在線詢價

無需選擇操作員即可進行穩(wěn)定的測定
配備了標準的壓電驅(qū)動受臺的自動調(diào)整構造以及軟件,降低了調(diào)整誤差所導致的測定值的變動。在高NA的光讀取頭鏡片的透過波面測定中發(fā)揮威力。

可測定405nm帶鏡片·650nm帯鏡片
標準裝載了405nm光源與658nm光源的兩種波長,可通過簡單的操作切換測定波長,可對任一方的光學部品進行評價。

可進行直線/圓偏光切換
測定具有在讀取頭光學部品中使用的偏光依存性的被檢物時,需要進行直線/圓偏光切換。進行塑料以及晶體等具有復屈折特性的部品的透過波面測定。

小型·高剛性
小型且高剛性的本體具有防振功能且充分考慮到生產(chǎn)現(xiàn)場的使用環(huán)境,所以不占空間即可進行迅速的品質(zhì)檢查。

可進行合否判定
的軟件,具有根據(jù)任意設定的規(guī)格值進行合否判定的機能,所以在生產(chǎn)線中可簡單地進行合否的判定。

主要用途:
· DVD、Blu-Ray Disk等的對物透鏡的透過波面測定
· 光讀取頭光學部品的透過波面測定
· 小型反射鏡、棱鏡等的光學部品的透過波面測定

主要規(guī)格:  

測定波長 圖片 2405nm , 658nm (激光等級 2 產(chǎn)品)
干涉方式 Twyman-Green( 泰曼 - 格林 )
測定光束徑 Φ 6mm 測定可能徑 Φ 2 ~ 6mm ( 包括調(diào)整用周邊的徑 )
偏光規(guī)格 圓·直線切換
反射球面 N.A 0.85
焦點
調(diào)整 有 ( spot monitor )
干涉條紋表示圖像大小 630 X 470 (像素)
解析方式 條紋掃描方式
遙控 調(diào)整 標準裝備 遙控調(diào)整范圍 :± 50um ( 手動調(diào)整范圍 :± 0.5mm )
倍率 1X , 3X ( 數(shù)碼倍率切換 )
裝置重量 本體 : 約 22kg( 除電腦 、 打印機 ) 遙控控制器 : 約 0.5kg
裝置尺寸 本體 : 330(W) × 465(D) × 460(H)mm 遙控控制器 : 154(W) × 100(D) × 75(H)mm
電源規(guī)格 100 - 240V AC 100VA 50-60Hz
使用環(huán)境 水平且無振動的地方 ( 地面振動 ± 0.8m/s2 以下) 溫度: 23 ± 3 ℃ 濕度: 60 %以下、 無結露

 


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