KIF-10A-NW/NTW(KIF-10A-NW/NTW) 小型牛頓干涉儀
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 北京元中銳科集成檢測技術有限公司
- 品牌
- 型號 KIF-10A-NW/NTW(KIF-10A-NW/NTW
- 所在地 北京市
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2015/12/11 18:00:00
- 訪問次數 1052
參考價 | 面議 |
應用了KIF-10A,用于測量光圈數目的測定儀。通過光圈數目與元器的比較,可簡單地短時間內進行測定。因采用非接觸的測定方式,不用擔心會破壞鏡片面以及元器。是在制造現場的工序測定中*的新檢測工具。
可進行穩定的檢測
緊湊型的臺式機,可放置于小的空間。在上面放置被測鏡片進行測定,無需花費時間裝卸。帶有防震構造,可簡單地進行穩定的測試。
可根據被檢物簡單地改變測定姿勢(KIF-10A-NW)
可通過只更改腳部安裝部位的位置,來改變測定的姿勢。所以可根據被測物的需求,當作上置式或下置式使用。
采用635nm 波長激光,順利引入生產線。(在線)
因與目前在斐佐型干涉儀上所使用的632.8mm 激光波長極為相似,干涉條紋的條紋感應度也與其近似。可順利應用到現有的檢查加工工程中。(在線)
品種豐富、種類齊全的參照鏡
參照鏡采用1英寸的緊湊結構,其種類與KIF-202L系列相比較也毫不遜色。
主要用途
單體鏡片的光圈數,面精度評價
KIF-10A-NW/NTW規格:
受臺開口徑 | Φ42mm | |
被測物固定方法 | 鏡片治具(因各鏡片的形狀各異) 受臺的鏡片治具接合口徑Φ63mm | |
本體外徑尺寸 | NW | 290(W)×240(D)×600(H) (mm ) (含遮光板) |
NTW | 750(W)×450(D)×1280(H)mm (桌子高度調整范圍zui大值) | |
本體重量 | NW | 約9.0Kg (含干涉儀本體約2.0Kg) |
NTW | 約37Kg (含干涉儀本體約2.0Kg) | |
沖程 | 移動 | ±1mm |
Z粗動 | 朝上:沖程156mm 朝下:沖程130mm (但因被測物的厚度,鏡片治具形狀各異) | |
Z微動 | ±1mm | |
選件 | 小型顯示器(2.5型,5.6型) 參照鏡 孔徑轉換器RF25-D6 |
鏡片治具敬請客戶自行配備
KIF-10A-NW/NTW 各參照鏡的測量范圍
KIF-10A-NW (上置式)/NTW
參照鏡 | 檢查可能曲率半徑 | 檢查可能曲率半徑 | 檢查可能zui大口徑 | 檢查可能zui大口徑 | ||
FNO | zui終R | R/D | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 |
0.6 | 8.2 | 0.67 | 6.7 | 169.0 | 10.0 | 41*2 |
0.7 | 11.8 | 0.78 | 10.5 | 165.0 | 13.5 | 41*2 |
1.0 | 20.0 | 1.07 | 18.0 | 157.0 | 16.8 | 41*2 |
1.5 | 31.5 | 1.53 | 30.0 | 145.0 | 19.6 | 41*2 |
2.0 | 44.4 | 2.04 | 43.0 | 132.0 | 21.1 | 41*2 |
3.0 | 69.5 | 3.05 | 68.0 | 106.0 | 22.3 | 34.7 |
6.0 | 147.1 | 6.09 | 146.0 | - | 24.0 | - |
KIF-10A-NW (下置式)
參照鏡 | 檢查可能曲率半徑 | 檢查可能曲率半徑 | 檢查可能zui大口徑 | 檢查可能zui大口徑 | ||
FNO | zui終R | R/D | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 |
0.6 | 8.2 | 0.67 | 6.7 | 143.0 | 10.0 | 100*1 |
0.7 | 11.8 | 0.78 | 10.5 | 139.0 | 13.5 | 100*1 |
1.0 | 20.0 | 1.07 | 18.0 | 132.0 | 16.8 | 100*1 |
1.5 | 31.5 | 1.53 | 30.0 | 120.0 | 19.6 | 78.4 |
2.0 | 44.4 | 2.04 | 43.0 | 107.0 | 21.1 | 52.4 |
3.0 | 69.5 | 3.05 | 68.0 | 82.0 | 22.3 | 26.8 |
6.0 | 147.1 | 6.09 | 146.0 | - | 24.0 | - |
可測定的zui大曲率半徑所表示的是在設定被檢物的厚度為零的情況下的數值。
可測定的zui大曲率半徑是在凹面側并根據鏡片結合夾具形狀、干涉儀的設置方向(上置型/下置型)等的機械尺寸以及受臺部形狀而變化
可測量zui大口徑中,帶有*1記號的數值為受臺上可放置的zui大口徑,帶有*2記號的數值為根據受臺開口徑確定的可測定zui大口徑。
FNO 表示光學設計上近軸FNO,實效值用R/D表示。
可檢查zui小口徑以及zui小曲率半徑根據被檢物的形狀而異。
相關符號:R:曲率半徑、D:直徑
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