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簡介：AutoSE-一鍵式全自動快速橢偏儀全自動化&高集成度&可視化光斑操作簡單，測試快速，為一般操作工人設計

簡介：智能型多功能橢偏儀是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，精確表征和分析的工具。多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現在線與離線配置切換。

簡介：儀器為光譜型橢偏儀，它的設計緊湊、易于使用，可以精確測量膜層的厚度和折光系數。

簡介：橢偏儀主要應用在薄膜科學相關的各行業，用來測量薄膜（多層）的厚度、粗糙度以及光學常數（如吸收系數、折射率等）（1）半導體工業的各種薄膜和多層結構。（2）光電子工業的涂層（3）數據存儲工業的磁膜（4...

簡介：NKD-8000系統綜合了光學、電子學和高級分析軟件，是目前測定多層薄膜和基片的折射率、吸收系數和厚度zui精確、zui易用的系統

簡介：系統規格：波長范圍：350~850nm入射角：30°~90°解析度：±0.01°待測樣品尺寸：upto200mm精度：1200ASiO2標準片厚度：（Tks）：±6A折射率（N）：±0.01at6...

簡介：系統規格：波長：637nm入射角：連續，30~90°（±0.03°）樣品尺寸：4inch~8inch精度：（1200ASiO2標準片，5times）TKS±2.5A/N±0.005尺寸：80cm×...

簡介：SPECEI-2000是一款應用橢圓偏光原理的臺式薄膜測量系統，適用于平面多層膜厚測量，如晶片、玻璃片等。分光橢偏儀可以測量光的多層反射，除了強度之外，也可以測量相對的相位和振幅變化，利用這種技術...

簡介：多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有*的精確度和準確度。

簡介：專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數