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簡介：Dektak8臺階式探針輪廓儀，結構緊湊，可提供很高的重復性和精度。*的X–Y方向定位系統可移動到8x8inch區域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理，還能測量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點高...

簡介：Dektak150型是Veeco公司2007年正式推出的型探針式表面輪廓儀(臺階儀)產品，主要應用于薄膜厚度測量、樣品表面形貌測量、薄膜應力測量、樣品表面粗糙度/波紋度測量、以及樣品表面三維形貌測...

簡介：集40多年的探針輪廓技術創新于一身，該系統在行業內的表現*，以重現性*和標準掃描范圍zui大而著稱。它提供各種各樣的配置和附加選項，用于程序化測量、低探針力表征和細節分析

簡介：對蝕刻圖形化后的藍寶石襯底進行測量結合常規的臺階儀和掃描探針顯微鏡技術

簡介：核心功能描述：實現快速弧高及臺階測量：綜合放大倍率8.0x—100x，支持偏角觀察功能。可測弧高臺階范圍1.0um—20mm（一般弧高的高度不超過800um）

簡介：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創新性的設計，可以提供的重現性，重現性低于5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術...

簡介：Single-arch設計提供具突破性的掃描穩定性

簡介：ET4000是Kosaka公司推出的全自動接觸式微細形狀測定儀，具有高精確性、穩定性和重復性，可測量FPD、晶片、磁盤，和與納米材料相關物件的表面特性、臺階高度和粗糙度等。

簡介：KOSAKET200臺階儀主要是觸針形狀不同，ET(俗稱Alpha-step)是R2um/60度鉆石制、AFM是蝕刻制，故幾乎無角度。也因此若純粹膜厚兩種都OK，差異是有些細微表面ET掉不進去，故...

簡介：NanoMap-D掃描三維表面輪廓儀是用于表面結構測量和表面形貌分析的一款測量計量型設備既可以用于科學研究，也可以用于工業產品的檢測。1、三維表面結構：粗糙度,波紋度，表面結構，缺陷分析，晶粒分析...