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面議772
簡介:PR05/06白光干涉三維形貌儀是采用日本*的的白光干涉掃描技術研制的納米量級形貌測量儀器,透過精密的掃描系統和自主的解析算法,進行樣品表面微細形貌的量測與分析。表面顯微成像能力與高精度測量的*結...
北京普瑞微納科技有限公司 會員等級: 產地:北京市我要詢價 -
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簡介:ContourGT系列結合*的64-bit,多核操作和分析軟件,白色光源干涉測量(WLI)硬件和*的操作簡易性,展現出歷史以來的3D光學表面輪廓儀系統。第十代光學表面輪廓儀提供了超大視野埃米至毫米...
北京華躍英泰科技有限公司 會員等級: 產地:北京市我要詢價 -
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簡介:NPFLEX是Bruker公司于2010年推出的一款可針對各種復雜形狀樣品進行表面測量的儀器。光學輪廓儀是一種非接觸式光學輪廓儀,它使用兩種技術來測量表面高度。一種是相位漂移干涉計(PSI)模式,...
北京華躍英泰科技有限公司 會員等級: 產地:北京市我要詢價 -
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簡介:Rtec公司的WLI1000白光干涉儀測量系統沿著縱軸捕獲一系列位置的光強數據。通過白光干涉圖的形狀,干涉圖的局部相位或者是二者的結合來確定表面位置。本公司還有激光共焦,白光共焦,拉曼光譜儀等,可...
北京中精儀科技有限公司 會員等級: 產地:北京市我要詢價 -
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簡介:激光測振儀(進口)位移分辨率高達0.008納米。測量物體振動的速度,加速度,位移,運動軌跡,頻率.全場激光測振實現整面物體的XY軸的振動測量可以彩色動畫輸出。三維激光測振可以實現三軸振動測量。多點...
克拉克中國 會員等級: 產地:深圳市我要詢價