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　　原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope ，AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。
 

　　原子力顯微鏡可適用于各種的物品，如金屬材料、高分子聚合物、生物細胞等，并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環境，進行不同物性分析，所以AFM 大的特點是其在空氣中或液體環境中都可以操作， 因此，AFM 在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有廣泛的應用。根據針尖與樣品材料的不同及針尖-樣品距離的不同，針尖與樣品之間的作用力可以是原子間斥力、范德瓦爾斯吸引力、彈性力、粘附力、磁力和靜電力以及針尖在掃描時產生的摩擦力。通過控制并檢測針尖與樣品之間的這些作用力，不僅可以高分辨率表征樣品表面形貌，還可分析與作用力相應的表面性質：摩擦力顯微鏡可分析研究材料的摩擦系數；磁力顯微鏡可研究樣品表面的磁疇分布，成為分析磁性材料的強有力工具；利用電力顯微鏡可分析樣品表面電勢、薄膜的介電常數和沉積電荷等。另外，AFM 還可對原子和分子進行操縱、修飾和加工，并設計和創造出新的結構和物質。
 

　　安東帕 Tosca 系列AFM原子力顯微鏡以*的方式將先進技術與高時效操作相結合，高度自動化被植入到每一級操作中，使這款 AFM 成為廣大科研和工業用戶理想的納米技術分析工具。