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更多> 測(cè)厚儀是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
射線在穿透一定的物質(zhì)時(shí),其強(qiáng)度的呈指數(shù)規(guī)律衰減,這和半衰期的公式相似,其公式為: I=Ir*EXP (-UX) ,Tr 為初始射線強(qiáng)度,I為穿過(guò)物體后的射線強(qiáng)度,U為衰減系數(shù),X為射線穿過(guò)的厚度。
對(duì)于不同的材料,其U值是不同的,因此使用射線測(cè)量厚度時(shí)必須知道被測(cè)材料的U值一般而言密度越大的材料其U值就越大,比如鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的,相應(yīng)的射線阻擋能力就越強(qiáng),因此在核技術(shù)實(shí)驗(yàn)中用作屏障,與之類似的就是鉛玻璃。
測(cè)厚儀分為激光測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、紙張測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀等。
激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,滄州歐譜從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
紙張測(cè)厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。
薄膜測(cè)厚儀:用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度,測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
涂層測(cè)厚儀:用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
超聲波測(cè)厚儀:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
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