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EDX 3000 PLUS 天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

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天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀 在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大面積鈹窗探測器,可準確無誤地分析出黃金,鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量,測試結果*符合國標GB/T 18043-2000要求。

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  天瑞新型X熒光貴金屬檢測儀 EDX 3000 PLUS 在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大面積鈹窗探測器,可準確無誤地分析出黃金,鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量,測試結果*符合國標GB/T 18043-2000要求。
  
  黃金貴重,儀器貴精。EDX 3000 PLUSzui閃耀的亮點在于超高精確度、超高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作,一切讓貴金屬檢測如此簡單!
  
  性能優勢
  
  超高分辨率,世界*:
  
  采用世界上的SDD硅漂移探測器 ,分辨率為139±5ev ,而常規的Si-PIN探測器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
  
  超高精確度,性能*:
  
  使用25mm 2大面積鈹窗探測器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術,提高分析速度,總體提高系統處理能力,計數率zui大可達8萬,比Si-PIN 6m-m2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
  
  超清晰攝像頭,精確定位:
  
  采用新型工業級相機,樣品圖像更加清晰,輕松實現精準定位。
  
  小準直器,輕松實現精小部位測試:
  
  提供多種準直器,直徑zui小達0.2mm,可輕松實現精小部位的精確測試,同時可根據測試需求電動切換準直器,使測量更加輕松更加準確。
  
  一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱:
  
  FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線,操作一步到位。
  
  技術參數
  
  元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
  
  分析檢出限可達ppm級
  
  分析含量一般為ppm到99.99%
  
  任意多個可選擇的分析和識別模型
  
  相互獨立的基體效應校正模型
  
  多變量非線性回歸程序
  
  多次測量重復性可達0.02%(含量96%以上)
  
  *工作穩定性為0.05%(含量96%以上)
  
  溫度適應范圍為15℃至30℃
  
  電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
  
  能量分辨率:139±5eV
  
  儀器配置
  
  移動樣品平臺
  
  信噪比增強器
  
  SDD探測器
  
  數字多道分析系統
  
  高低壓電源
  
  大功率X光管
  
  計算機及噴墨打印機
  
  外觀尺寸: 550×416×333mm
  
  樣品腔尺寸:460×298×98mm
  
  質量:45Kg
  
  應用領域
  
  黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測


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