1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
日本 IM3570阻抗分析儀基本參數
測量模式 | LCR(LCR測量),分析儀(掃描測量),連續測量 |
測量參數 | Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
測量量程 | 100mΩ~100MΩ,12檔量程(所有參數由Z確定) |
顯示范圍 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[單位]~9.999999G[單位],僅Z和Y顯示值 θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999) Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%) |
基本精度 | Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° |
測量頻率 | 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進) |
測量信號電平 | V模式,CV模式(普通模式) 50mV~1Vrms,1mVrms步進(1MHz以下) 10mV~1Vrms,1mVrms步進(1.0001MHz以上) CC模式(普通模式) 10μA~50mA rms,10μA rms步進(1MHz以下) 10μA~10mA rms,10μA rms步進(1.0001MHz以上) |
輸出阻抗 | 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω |
顯示 | 彩色TFT5.7英寸,可設置顯示ON/OFF |
測量時間 | 0.5ms(100kHz,FAST,顯示OFF,代表值) |
測量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
其他功能 | DC偏壓測量,比較功能,面板讀取和保存,存儲功能 |
接口 | EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通訊,U盤,LAN |
電源 | AC90~264V,50/60Hz,大150VA |
打印 | 拷貝測量值或屏幕顯示的要點(需用9442,9593-01和9446) |
接口 | GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有標準) |
電源 | AC90~264V,50/60Hz,大150VA |
體積和重量 | 330W×119H×307Dmm,5.8kg |
附件 | 電源線×1 |
主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭
IM3570阻抗分析儀可選件:
4端子探頭L2000:DC~5MHz,1m長
測試冶具 9262:直接連接型, DC~5 MHz
測試冶具 9263:DC~5MHz,直接連接型,測試樣品尺寸:1mm~10mm
SMD測試治具9677:用于側面有電極的SMD;DC~120MHz,測試樣品;尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9699:用于底部有電極的SMD;DC~120MHz,測試樣品;尺寸:寬1.0~4.0mm,高1.5mm以下
阻抗分析儀是以讓測量頻率和測量電壓連續變化的同時,掃描測量被測物的特性為主要功能。可用于如線圈、變壓器、電容、壓電元件的開發和檢查等用途中。因此,阻抗分析儀對于復蘇中的電子零部件市場,可以說是不可欠缺的測量儀器。
※阻抗:交流電路中電流不容易流通的程度。單位為Ω。