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X熒光貴金屬檢測儀

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元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)分析檢出限可達ppm級分析含量一般為ppm到99

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         元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)

         分析檢出限可達ppm級 分析含量一般為ppm到99.99%

         任意多個可選擇的分析和識別模型

         相互獨立的基體效應校正模型

         多變量非線性回歸程序

         溫度適應范圍為15℃至30℃

         電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源

         能量分辨率:139±5eV
     超高分辨率:
     采用SDD硅漂移探測器 ,分辨率為139±5ev ,而常規的Si-PIN探測器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
 
     超高精確度,性能:
     使用25mm2大面積鈹窗探測器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術,提高分析速度,總體提高系統處理能力,計數率可達8萬,比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
 
     超清晰攝像頭,精確定位:
     采用新型工業級相機,樣品圖像更加清晰,輕松實現精準定位。
 
     小準直器,輕松實現精小部位測試:
     提供多種準直器,直徑最小達0.2mm,可輕松實現精小部位的精確測試,同時可根據測試需求電動切換準直器,使測量更加輕松更加準確。
 
     一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱:
     FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線,操作一步到位。


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