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鍍層測厚儀FT150

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使用新開發(fā)的X射線聚光用多毛細管的產(chǎn)品陣容誕生了。另外,以X射線檢測結(jié)構(gòu)為中心,對各類元件進行優(yōu)化,從而大幅提高了檢測靈敏度,在不損失檢測精度的前提下實現(xiàn)了的高處理能力。并且,對設備進行了重新設計,使得樣本室的使用,以及對檢測點的檢查變得更為容易。

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產(chǎn)品詳情

 使用新開發(fā)的X射線聚光用多毛細管的產(chǎn)品陣容誕生了。另外,以X射線檢測結(jié)構(gòu)為中心,對各類元件進行優(yōu)化,從而大幅提高了檢測靈敏度,在不損失檢測精度的前提下實現(xiàn)了的高處理能力。并且,對設備進行了重新設計,使得樣本室的使用,以及對檢測點的檢查變得更為容易。

X射線熒光鍍層厚度測量儀FT150系列特長

 1.顯微領域的高精度檢測

 通過采用新開發(fā)的多毛細管,以及對探測器的優(yōu)化,在實現(xiàn)照射半徑等同于舊有型號FT9500X為30 μm(設想FWHM: 17 μm)的基礎上,進一步將處理能力提高到了2倍以上。

 2.產(chǎn)品陣容適應各類檢測樣本

 針對檢測樣本的不同種類,可在下列3種型號中進行選擇。

 ?測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、超薄薄膜的型號
 ?能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號
 ?適合對陶瓷芯片電極部分中,過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進行高能測量的型號

 3.兼顧易操作性與安全性

 放大了開口,同時樣本室的門也可單手輕松開閉。從而提高了取出、放入檢測樣本的操作簡便性,并且該密封結(jié)構(gòu)也大大減少了X射線泄漏的風險,讓用戶放心使用。

 4.檢測部位可見

 通過設置大型觀察窗、修改部件布局,使得樣本室門在關閉狀態(tài)下亦可方便地觀察檢測部位。

 5.清晰的樣本圖像

 使用了分辨率比以往更高的樣本觀察攝像頭,采用全數(shù)碼變焦,從而消除位置偏差,可以清晰地觀察數(shù)十μm的微小樣本。

 另外,亦采用LED作為樣本觀察燈,無需像以往的機型那樣對燈泡進行更換。

 6.新GUI

 ?將各類檢測方法、檢測樣本都以應用程序圖標的形式進行了登記。圖標皆為檢測樣本的照片、多層膜的圖示等,因此登記、整理起來就很方便,從而使得用戶可以不走彎路,直接進行檢測。
 ?使用檢測向?qū)Т翱趤碇笇Р僮鳌Mㄟ^與檢測畫面聯(lián)動,逐步引導用戶執(zhí)行當前所需進行的工作。

X射線熒光鍍層厚度測量儀FT150系列規(guī)格

選購項

 ?能譜匹配軟件(材料辨別)
 ?塊體FP(測量金屬成分比)
 ?樣品操作限制設置
 ?晶圓治具(FT150/FT150h)
 ?觸摸板
 ?信號燈
 ?打印機

緊急停止開關箱


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