大型樣品室，分析型物鏡，可同時接配EDS/WDS/EBSD，在觀察精細形貌同時，做化學成分和晶體結構定性定量分析。高速渦輪分子泵真空系統，操作維護簡單方便。
CX-200TM標配SE探測器，觀察表面精細形貌形態；可選配BSE探測器，觀察材料成分反差像，同時可擴展低真空觀察模式，非導電樣品可直接觀察；可選配全套的X射線微區分析附件（EDS、WDS,EBSD）

產品簡介
        大型樣品室，分析型物鏡，可同時接配EDS/WDS/EBSD，在觀察精細形貌同時，做化學成分和晶體結構定性定量分析。高速渦輪分子泵真空系統，操作維護簡單方便。
        CX-200TM標配SE探測器，觀察表面精細形貌形態；可選配BSE探測器，觀察材料成分反差像，同時可擴展低真空觀察模式，非導電樣品可直接觀察；可選配全套的X射線微區分析附件（EDS、WDS,EBSD）原位實現化學成分定性定量，及微區晶體結構定性定量分析。

主要特點：
--錐形物鏡，長焦性能*。
--中大型樣品室分析型物鏡，可同時接配多種探測器,有較強分析拓展能力；
--渦輪分子泵真空系統高效清潔節能，
--全數字化高度集成的電器控制系統，結構緊湊，穩定可靠，與計算機通訊采用高速USB接口。
--zui高支持5120 x 3840像素的圖像采集能力，體現優良的數字化控制掃描系統對電子束的控制精度
--全自動控制能力，一鍵成像，自動燈絲飽和，自動聚焦，自動消象散，自動亮度對比度控制，自動電子束對 中，自動偏壓，物鏡光闌自動搖擺對中合軸。
--NanoStation操作軟件，多種快捷按鈕，簡單方便，同時允許用戶自定義熱鍵，允許更高效的操作；
  圖像灰度直方圖實時顯示，自動調整亮度對比度。
--強大的圖像編輯處理能力
     

技術指標：

分辨率：3.0nm（30kV，SEI）10nm（3KV，SEI） 
            4.0nm（30kV，BSEI） 
放大倍數：10x~300，000x
加速電壓 0.5kV~30kV 
電子槍：三級自給偏壓，偏壓電阻可自動/手動調節，預對中發叉式鎢絲陰極 
透鏡系統：2個聚光鏡，1個物鏡 
物鏡光闌：4孔可變光闌，搖擺對中合軸 
圖像電位移和電旋轉：±50μm（WD：10㎜）；0-360°無限 
樣品室：內徑φ210mm，可接配EDS，BSE，WDS EBSD等分析附件. 
樣品臺及行程:五軸樣品臺，Z軸為自動，其余手動
             X：65㎜，Y：40㎜，Z：5~65㎜，T：-20°~＋90°，R：360° 
zui大樣品尺寸：160mm（直徑）X 71mm（高度） 
操作系統：PC機控制，Windows7，21.5英寸彩顯，GUI操作軟件嵌入多種圖像實時分析測量工具，鼠標鍵盤操作 
自動功能：自動聚焦，自動亮度對比度，自動消象散，自動飽和，自動對中，自動偏壓電阻。 
視頻分辨率及幀頻：選區模式：320 x 240像素   30幀/秒
                 TV 模式：640 x 480像素     10幀/秒
                 慢掃描模式：800 x 600像素（3檔速度） 
                 掃描模式：1200 x 600像素（SE BSE 雙信號） 
                 照相模式：1280 x 960，2560 x 1920，5120 x 3840像素 
                 示波器模式 
圖像格式 JPG，TIFF，BMP 
語言英語 
真空系統：帶安全防護的自動高真空系統，渦輪分子泵260升/秒＋旋片式機械泵100L/min 
          真空度實時顯示。
          高真空：樣品室處真空度優于7.5x10-5 Torr，
          低真空：樣品室 1-270Pa

總功率：2KW
外形尺寸和重量： 
主機：77（W）x88（D）x150（H）㎝，350㎏ 
電腦桌：任意