UBTS系統被廣泛應用于器件研發、認證和批量生產中，其靈活、完善的測試報告軟件可以為研發工程師和可靠性工程師提供豐富的信息。

適用范圍：

♦ 大規模數字集成電路：MCU、DSP、FPGA、CPU、邏輯器件、接口器件和驅動器件等

♦ 存儲器集成電路：SRAM、DRAM、SDRAM、DDR2、EEPROM，Nａnd Flash（PARALLEL, SERIAL），Nor Flash （PARALLEL SERIAL）等

♦ 混合集成電路：ADC，DAC，DC/DC，Smart power supplier，OP-AMP，Voltage Regulator，Analog Switch，Analog Multiplexer等;

♦ 特殊器件：ASIC、SOC、Medical、Sensor和客戶定制等器件。

產品特點：

♦ 基于無二功能的PTDM模塊，將圖形產生和測試驅動合二為一；

♦ 50MHz的系統主時鐘，可以實現高頻率的功能測試；最小可編程脈沖寬度10ns；

♦ 實現了老化情況下的器件功能測試；

♦ 一臺系統可以實現數字集成電路、存儲器電路和混合集成電路的老化和功能測試；

♦ 容易實現批器件的可靠性評估及性能參數分布分析，如批存儲器10萬次的有效擦寫可靠性評估等；

♦ 每個BIB對應一個PTDM模塊，每個PTDM模塊都有自己的微處理器單元，使不同的BIB可以單獨運行不同類型的老煉程序（利用Firmware）；

♦ 12到48插槽的老煉箱可以選擇，還能為客戶提供定制的老煉箱柜；

♦ 每個PTDM模塊，可以配置多達6個程控電源（選件）；可為每個老化板提供高達104A的老化電流，提高了每個老化板的老化器件的數量。老化電壓可以并聯使用；

♦ 另外每個PTDM模塊還配置了4路可編程參考電源（Vref）；

♦ 配合EDA的HD/H型BIB，有多達480個金手指和44個低插入力的電源通道，大大提升了提供給每個老化板的綜合電流能力。每個老化板的信號連續驅動電流高達15A；

♦ 1G超大矢量存儲器；

♦ 每個PTDM模塊均有時鐘發生器、地址發生器（包括1個16位加減Refresh地址計數器）、數據發生器、掃描發生器、圖形發生器和信號格式化器等信號發生能力，滿足各種器件的功能測試要求；

♦ 算法圖形發生器實現存儲器激勵信號的產生和輸出信號監測

♦ I/O通道均具備三態編程控制及信號格式化（NRZ, DNRZ, RTZ, RTO, SBC,FORCE）能力，最多可以多達16組；

♦ 具備拓撲及多路轉換功能；

標準規格或主要參數：

♦ 老化箱溫度范圍：RT+20℃～+150℃或-40℃～+150℃可選；

♦ 12插槽、24插槽和48插槽老化箱可選，PTDM模塊可以任意選配；

♦ HD/H老化板標準尺寸：440mm X 570mm；

♦ 每個PTDM模塊的主要參數：

 ? 1G矢量存儲器和失效存儲器；

 ? 主時鐘：50MHz，定時分辨率：10ns；

 ? 最多可提供256 I/O通道，48個激勵信號通道和32個特殊監測通道；

 ? 多達4組不同的Vih和Vil數字信號電平編程設置能力，保證混合工藝器件的功能測試能力；

 ? Vih編程范圍：0-8V、Vil編程范圍（）：-0.5V～2V；測試閾值電平Vth編程范圍：0V～8V；

 ? 48路激勵通道具備超高信號高電平Vihh的編程能力，編程范圍：0V～15V；

 ? On-the -fly時鐘邊沿設置數量：32個；

 ? I/O通道具備NRZ, DNRZ, RTZ, RTO等格式化編程能力；

 ? 通道矢量深度：32M

 ? 每個信號通道的連續驅動電流能力：200mA，峰值驅動電流：3A；

 ? 4路可編程參考電壓，另外最多可選配6組程控老化電源，可為單個老化板提供108A老化電流；

 ? 可選配模擬模塊，每個模塊的模擬通道：4路，具備各種標準模擬信號的產生能力；