近年來，隨著工業電子設備線路設計日趨復雜，焊料無鉛化的日益嚴格，促使各類制造工藝的研究和應用越來越受到重視并取得了新的發展。但各種元器件或是電路信號傳輸的載體材料，其質量的好壞與可靠性水平決定了產品的質量與可靠性。但是由于成本以及技術的原因，載體材料在生產和應用過程中出現了大量的失效問題，對于這種失效問題，我們需要得到一些失效原因分析技術，來使得各種元器件等載體材料在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證。
H-X系列掃描電子顯微鏡就是為載體材料失效分析技術的提供技術解決方案，本儀器凝聚科學家團隊多年心血，對產品的外觀形態、運控系統、功能結構、人機交互關系等前沿工業科學應用進行集成優化設計，運用新技術將生產流程數字化、智能化，嚴格出廠標準性能測試，采用了智能測量分析系統軟件及高性能的微機硬件，使其具有強大的高速數據采集與大規模數據分析處理能力，更加提高了測試數值的準確性，為用戶提供操作更精確、更標準、更高效的儀器設備。
H-X系列掃描電子顯微鏡凝聚了工業科學前沿領域的國際技術，新研發機型的H-X100C掃描電子顯微鏡不僅保持了H-X100系列A、B機型的極簡操作性技術延續，還擁有的可擴展性接口，其極簡集成化的智能測量分析軟件系統更能快速完成從圖像觀察、元素分析到生成報告的連貫操作。
H-X100系列掃描電子顯微鏡由真空系統、電子光學系統、樣品室和樣品臺、電子探測器、背散射電子探頭、真空泵、自動穩壓器、專用工具、計算機、極簡的智能測量分析系統軟件及附件組成的科學研究儀器。

一 應用范圍
H-X系列掃描電子顯微鏡涵蓋以生物技術和納米技術為首的包括材料開發、測試、評估和缺陷分析及質量控制等廣泛領域；適用于材料科學、化學化工、生命科學以及相關領域的研究工作，對各種材料、化工產品、生物制品、非金屬礦及深加工產品等進行觀測分析試驗。

二 測試步驟
將測試樣品載體放入掃描電子顯微鏡樣品室中，使用高效能的加速電壓對樣品載體的測試位置進行放大觀察觀測，并用X射線能譜分析儀對樣品進行EDS元素定性半定量分析。

三 功能特性
1）使用多點觸摸屏，操作舒適
通過多點觸控技術和智能測量分析系統軟件，極簡科學的操作界面直觀簡單，只需輕觸屏幕就能像操作智能手機一樣操控各種功能，簡單快捷易懂，即使是新員工也能輕松獲得高品質的觀測圖像進行EDS元素分析。
2）適應各種環境的移動式掃描電鏡
操作員在PC上就可以進行觀察和分析，只要移動觸摸屏，在遠離裝置的地方也能夠進行操作控制。只需 AC100V 插座就可以安裝，用腳輪即可自由移動。
3）的EDS能譜分析技術
·可擴展EDS元素分析功能，并為多種探測器預留接口。
·觸控式掃描電鏡不僅功能全面，而且堅固耐用，能夠很好的滿足不同實驗室的需求，能夠提供高分辨率，并能夠在高真空和低真空模式下提供系列高效能的加速電壓，能夠輕松快速獲取高質量的的二次電子和背散射電子像。
·采用新型探測技術的嵌入式智能軟件系統，具有面分布分析、多點分析、自動漂移補償、線掃描等技術應用功能。
4）的顯微鏡表面分析技術
·采用技術的顯微鏡；
·有較高的放大倍數，幾萬到幾十萬倍之間連續可調；
·有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；
·H-X系列標配X射線能譜儀裝置，可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區成分分析；
·試樣準備簡單；