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返回產品中心>熱流儀快速冷熱沖擊測試機高低溫熱流儀高低溫氣流儀快速冷熱交替氣流儀電子芯片熱流儀 熱流儀、快速高低溫沖擊測試儀適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
熱流儀/快速高低溫沖擊測試機與傳統高低溫測試箱、溫濕度測試箱對比主要優勢:
1、可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個 IC (模塊),單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件
2、inTEST 對測試機平臺 load board 上的 IC 進行溫度循環 / 沖擊;傳統高低溫試驗箱無法針對此類測試
【工作原理】
1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住,形成一個較密閉空間的測試腔,試驗機輸出的高溫或低溫氣流,使被測試品表面溫度發生劇烈變化,從而完成相應的高低溫沖擊試驗;
2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快。
【工作模式】
A)2路主空氣管輸出,由分布頭分為8路供氣,帶2套1拖8 系統
B) 2種檢測模式 Air Mode 和 DUTMode測試和循環于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫)
1. 設備型號:WBE-KSWDCJ01
2. 樣品盒尺寸:直徑140mm×高50mm
3. 制冷方式:采用風冷式HFC環保制冷劑復疊系統,溫度可達-70℃
4. 噪音:≤65dB(A聲級)
5. 條件:風冷式環境溫度在+23℃時
6. 溫度控制范圍:-70℃~+250℃
7. 沖擊溫度范圍:-60℃~+200℃
8. 溫度轉換時間:≤10秒
9. 溫度偏差:測試品恒定在-40℃時,溫度偏差為±1℃
10.沖擊氣流量:1.9~8.5L/s(分為8路,每路0.23~1.06 L/s)連續氣流
11.溫變速率降:RT+10℃降至-40℃≤60s
12.試品表面溫度:RT+10℃降至-40℃約1分鐘試品表面溫度達到,氣體溫度與樣品溫度可選擇測控
13.控制系統:采用進口智能PLC觸摸屏控制,7寸彩色屏
14.試品:帶2套1拖8 系統,金屬封裝PCB板模塊8片;
15.前端空氣經干燥過濾器處理,產品測試區及附近無明顯結露現象。設備可以連續運轉不需進行除霜。
16.外形尺寸:寬650×高1400×深900(mm)以實物為準
17.使用電源:220V 3KW
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