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芯片測試三箱式冷熱沖擊試驗機

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芯片測試三箱式冷熱沖擊試驗機是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業的測試設備,用于測試材料結構或復合材料,在瞬間下經溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度,得以在Z短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學....

詳細信息 在線詢價

芯片測試三箱式冷熱沖擊試驗機是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業的測試設備,用于測試材料結構或復合材料,在瞬間下經溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度,得以在Z短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害

芯片測試三箱式冷熱沖擊試驗機產品用途:

 三箱式冷熱沖擊試驗機用于光伏組件、LED燈管、LED燈具、電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害,可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件,無一不需要可程式冷熱沖擊試驗箱的鑒定。

 芯片測試三箱式冷熱沖擊試驗機詳細參數

一、產品屬性

1.1容積:100L

1.2工作室尺寸

500*400*500mm    (寬×高×深)

1.3 外形尺寸

1400*2000*2100mm (寬×高×深)

1.4 沖擊形式

低溫高溫按程序自動交變,氣動風門切換,換氣式.

1.5供電電源

380V&plsmn;10%,50Hz&plsmn;1 三相四線+接地線,保護接地電阻小于 4Ω

1.6 總功率

15KW

  • 主要技術參數

  •  

2.1 高溫室

高溫蓄溫箱溫度范圍

+60℃~+200℃

高溫沖擊溫度

+60~150℃

2.2 低溫室

低溫蓄溫箱溫度范圍

-10℃~-65℃

低溫沖擊溫度

-10℃~-40℃

 

 

2.3.工作室

 

 

 

溫度波動度

≤0.5℃

溫度偏差

≤&plsmn;1℃

溫度均勻度

≤2.0℃

高低溫轉換時間

5~15S

高低溫恢復時間

3~5min(空載下非線性)

預熱區升溫速度

≥3℃/min(非線性)

預冷區降溫速度

≥2℃/min(非線性)

2.4噪音

65dB

 

2.5 滿足試驗標準

1、1.IEC 60068-2-14環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化,

2、GB/T 2423.22環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化,

3、GJB 150.5裝備實驗室環境試驗方法第5部分:溫度沖擊試驗,

4、JESD 22-A106B.01-2016溫度沖擊  等。。。

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