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動態薄膜干燥度分析儀Horus

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動態干燥度分析儀利用多散斑擴散波光譜學,在膜形成的過程中研究顆粒的運動

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動態干燥度分析儀利用多散斑擴散波光譜學,在膜形成的過程中研究顆粒的運動。測量系統包括一個產生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測器。通過對膜的干燥動力學曲線的分析,可以得到有關膜形成過程中分子運動及重排等信息。

利用多散斑擴散波光譜學,在膜形成的過程中研究顆粒的運動。測量系統包括一個產生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測器。干涉的圖像被稱作散斑圖像,由多像素檢測器檢測。

的干涉光斑光譜成像技術可以記錄從粒子的從運動速度非常快(濕膜)到運動速度非常緩慢(干膜)的速度變化動態。變化的動力學過程可以通過流動性因子對時間的變化關系曲線進行量化。

可以測量不同基底:金屬、塑料、玻璃、木頭、混凝土、紙、薄膜…

-  可以測量膜的厚度 : 高達500 µm

-  數據:

1.   成膜動力學報告:流動性因子對時間的變化關系曲線

2.   根據膜的類型(水劑涂料或其他),自動計算特征點

3.  特征點的數據表摘要

4.  數據可以輸出到excel表格中

主要規格

檢測頭:

光源:  650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)

檢測器: 背散射光接受 (MS-DWS多斑漫散射波光譜學)

測量平臺:

防震平臺

測量厚度: 厚達500 µm 膜厚度

數據采集:

可以從秒到數天. 可達30次采集/秒

 




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