全新銀漿（爬膠）高度45度檢測系統集多項創新于一身，從外觀到性能都緊跟設計風向，致力于拓展工業領域新格局。秉承不斷探索、不斷超越的品牌設計理念，為客戶提供完善的工業檢測解決方案。
銀漿（爬膠）高度45度檢測系統是半導體銀漿silver paste高度專業檢測儀器，也稱之為銀漿厚度檢測儀；在半導體芯片加工中，需要對芯片die中的晶圓wafe進行銀漿固定，這就需要對固定工藝進行檢測，已判斷銀漿的高度或厚度是否達到的技術指標；此系列檢測儀是此工藝專業檢測儀器，通過顯微鏡非接觸圖像識別的方式進行觀察及量測，配專業相機、軟件及固定治具；快速有效的檢測此工藝技術指標；此系列產品還廣泛用于PCB行業、LED封裝行業、金屬行業、材料加工行業等；
產品名稱 | 產品主要組成配置 | 產品主要組成配置型號 | 相關參數 |
銀漿（爬膠）高度45度檢測系統
| 高清精密卡位鏡體 | OMT-10D | 攝像接口1X；光學刻度倍數0.7~4.5X |
高清圖像采集系統 | OMT-630CF | 有效像素數字600萬；分辨率3072*2048 | |
圖像編輯及測量系統 | OMT-1.5D | 功能：觀察、拍照存儲、錄像、自動尋邊、量測、數據導出、掃描上傳、景深融合、大圖拼接、支持開發對接上傳MES等功能 | |
照明系統 | OMT-60系列 | 長壽命、LED、冷光源、亮度可調 | |
固定調節機構 | 圓形樣品臺 | XY 兩軸可調平臺架以及一個 300mm 直徑，可 360 度旋轉的圓形平臺 | |
電腦主機 | 戴爾商務主機 | 戴爾商務主機 | |
高清液晶顯示器 | 21.5或24英寸以上屏幕 | HMDI/VGA 1920*1080 | |
數字高清連接線 | USB3.0數據線 | 高清接口，USB3.0 | |
尺寸標定板 | 圖像尺寸校正片 | 厘米、毫米校正尺 |
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