Talos F200X G2 TEM
適用于高分辨率 TEM 和 STEM 表征以及準(zhǔn)確化學(xué)定量的 TEM 顯微鏡。
Thermo Scientific Talos F200X (S)TEM 是一款（掃描）透射電子顯微鏡，其將出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像與業(yè)界的能量色散 X 射線光譜 (EDS) 信號(hào)檢測(cè)相結(jié)合。采用構(gòu)合映射的 2D/3D 化學(xué)表征由 4 個(gè)內(nèi)置 SDD Super-X 探頭執(zhí)行。Talos F200X (S)TEM 在所有維度下均可實(shí)現(xiàn)速精確的 EDS 分析，以及在進(jìn)行動(dòng)態(tài)顯微鏡檢查時(shí)實(shí)現(xiàn)導(dǎo)航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。Talos F200X (S)TEM 還具有較低的環(huán)境敏感度；儀器外殼可調(diào)節(jié) TEM 室中空氣壓力波、氣流和細(xì)微溫度變化的影響。
(S)TEM 成像和化學(xué)分析的高分辨率和高通量
Talos F200X (S)TEM 可在多維度下對(duì)納米材料進(jìn)行快速、精確的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的創(chuàng)新功能，Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半導(dǎo)體以及工業(yè)環(huán)境高級(jí)研究和分析的理想選擇。
最近對(duì)在高分辨率下進(jìn)行大面積相關(guān)性成像的需求有所增加，因?yàn)檫@使研究人員在獲得統(tǒng)計(jì)學(xué)上穩(wěn)定的數(shù)據(jù)的同時(shí)也能保留其觀測(cè)結(jié)果的背景。Thermo Scientific Maps 軟件（由 Thermo Scientific Velox 軟件啟用）自動(dòng)采集樣品的一系列圖像，并將它們拼接在一起以形成一幅大尺寸最終圖像。圖像采集甚至可以在無(wú)人值守的情況下執(zhí)行。
Thermo Scientific Avizo 軟件讓研究人員可以通過(guò)自動(dòng)話工作流程進(jìn)行即時(shí)處理來(lái)執(zhí)行圖像分析，以及生成納米顆粒大小、表面積、周長(zhǎng)、分布和化學(xué)成分等統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。來(lái)自不同顯微鏡的圖像和化學(xué)信息可以關(guān)聯(lián)起來(lái)以保留相關(guān)背景。
Align Genie 自動(dòng)化軟件減輕了新手操作員的學(xué)習(xí)負(fù)擔(dān)，緩解了多用戶環(huán)境中的緊張氣氛，并為經(jīng)驗(yàn)豐富的操作員縮短了數(shù)據(jù)獲得周期。
主要特點(diǎn)：
直觀的軟件
Thermo Scientific Velox 軟件可實(shí)現(xiàn)對(duì)多模式數(shù)據(jù)的快速、輕松的采集和分析。
更短的化學(xué)成分獲得周期
快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級(jí)細(xì)節(jié)，同時(shí)保持高潔凈度。
更好的圖像數(shù)據(jù)
高通量 STEM 成像采用同步多信號(hào)檢測(cè)，可為高質(zhì)量圖像提供更高的對(duì)比度。
Maps 軟件
Thermo Scientific Maps 軟件可通過(guò)即時(shí)處理以高分辨率進(jìn)行自動(dòng)化大面積圖像和分析數(shù)據(jù)采集。
更多空間
為動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)添加特定用途的原位樣品桿。
高質(zhì)量 (S)TEM 圖像和準(zhǔn)確的 EDS
通過(guò)創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實(shí)現(xiàn)極準(zhǔn)確的定量。
高度可重復(fù)的數(shù)據(jù)采集
所有日常 TEM 調(diào)整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點(diǎn)和旋轉(zhuǎn)中心都是自動(dòng)進(jìn)行的，確保您始終從成像條件開(kāi)始工作。實(shí)驗(yàn)可以能夠再現(xiàn)的方式重復(fù)進(jìn)行，從而使您能夠?qū)Ｗ⒂谘芯慷莾x器操作。
提高了生產(chǎn)率
超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠(yuǎn)程操作和恒定功率物鏡，可進(jìn)行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環(huán)境的快速輕松切換。
性能數(shù)據(jù)
應(yīng)用
采用電子顯微鏡進(jìn)行過(guò)程控制
現(xiàn)代工業(yè)需求高通量、質(zhì)量、通過(guò)穩(wěn)健的工藝控制維持平衡。SEM 和 TEM 工具結(jié)合專用的自動(dòng)化軟件、為過(guò)程監(jiān)控和改進(jìn)提供了快速、多尺度的信息。
質(zhì)量控制和故障分析
質(zhì)量控制和保證對(duì)于現(xiàn)代工業(yè)至關(guān)重要。我們提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM 和光譜工具、使您可以為過(guò)程控制和改進(jìn)做出可靠、明智的決策。
基礎(chǔ)材料研究
越來(lái)越小的規(guī)模研究新型材料、以限度地控制其物理和化學(xué)特性。電子顯微鏡為研究人員提供了對(duì)微米到納米級(jí)各種材料特性的重要見(jiàn)解。
半導(dǎo)體探索和開(kāi)發(fā)
的電子顯微鏡、聚焦離子束和相關(guān)分析技術(shù)可用于識(shí)別制造高性能半導(dǎo)體器件的可行解決方案和設(shè)計(jì)方法。
良率提升和計(jì)量
我們?yōu)槿毕莘治觥⒂?jì)量學(xué)和工藝控制提供的分析功能、旨在幫助提高生產(chǎn)率并改善一系列半導(dǎo)體應(yīng)用和設(shè)備的產(chǎn)量。
半導(dǎo)體故障分析
越來(lái)越復(fù)雜的半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)導(dǎo)致更多隱藏故障引起的缺陷的位置。我們的新一代工作流程可幫助您定位和表征影響量產(chǎn)、性能和可靠性的細(xì)微的電子問(wèn)題。
物理和化學(xué)表征
持續(xù)的消費(fèi)者需求推動(dòng)了創(chuàng)建更小型、更快和更便宜的電子設(shè)備。它們的生產(chǎn)依賴高效的儀器和工作流程，可對(duì)多種半導(dǎo)體和顯示設(shè)備進(jìn)行成像、分析和表征。
