配置新型光電二極管陣列檢測器SPD-M30A的Nexera X2的系統。配備新解析手法「i-PDeA※（申請中）」，為未充分分離峰或隱藏峰的解析提供新的途徑。具備的靈敏度和分離性能，進一步擴展了UHPLC分析的領域。

※ inligent Peak Deconvolution Analysis

inligent Peak Deconvolution Analysis (i-PDeA，申請中) *分離未分離峰

即使是未分離的峰，如果應用i-PDeA功能，則可利用譜圖的差異提取出單一峰，免去了未分離峰波形處理的煩惱。以傳統方法難以檢測的隱藏在目的成分峰中的雜質峰也可輕松檢測，僅需數步便可完成檢測。

基于i-PDeA的波形處理

目的峰洗脫在拖尾峰上了...

高靈敏度檢測池（選配）

● 追加實現更高靈敏度的選配檢測池

SR-Cell除標準檢測池之外，添加了高靈敏度檢測池。光程長85 mm，長于標準檢測池，全面檢測微小色譜峰。

烷基酮分析時標準檢測池與高靈敏度檢測池的S/N比較

● 醫藥品雜質分析例

高靈敏度檢測池可以充分應對醫藥品中以標準檢測池難以檢測的雜質。使用Nexera SR系統，分別以標準檢測池與高靈敏度檢測池（選配）分析了*和其分解生成物。使用高靈敏度檢測池可以檢測痕量雜質。Nexera SR系統與高靈敏度檢測池組合成為痕量成分分析的利器。