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參考價 | 面議 |
- 公司名稱 弘度科學(xué)儀器(上海)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 上海
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/4/29 16:27:35
- 訪問次數(shù) 64
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PhysTech在1990年推出了臺數(shù)字DLTS,隨著電腦技術(shù)的發(fā)展,使得在短時間內(nèi)進(jìn)行復(fù)雜計算成為可能。在純指數(shù)發(fā)射過程模型的基礎(chǔ)上,用各種數(shù)學(xué)模型分析測量到的瞬態(tài)過程,如傅里葉轉(zhuǎn)換、拉普拉斯轉(zhuǎn)換、多指數(shù)瞬態(tài)擬合、ITS(等溫瞬態(tài)光譜)信號重疊法、溫度掃描信號重疊法(重折疊)。與其他系統(tǒng)相比,HERA-DLTS具有的能量分辨率。
PhysTech在1990年推出了臺數(shù)字DLTS,隨著電腦技術(shù)的發(fā)展,使得在短時間內(nèi)進(jìn)行復(fù)雜計算成為可能。在純指數(shù)發(fā)射過程模型的基礎(chǔ)上,用各種數(shù)學(xué)模型分析測量到的瞬態(tài)過程,如傅里葉轉(zhuǎn)換、拉普拉斯轉(zhuǎn)換、多指數(shù)瞬態(tài)擬合、ITS(等溫瞬態(tài)光譜)信號重疊法、溫度掃描信號重疊法(重折疊)。與其他系統(tǒng)相比,HERA-DLTS具有的能量分辨率。
半導(dǎo)體的摻雜濃度、缺陷能級位、界面態(tài)(俘獲界面)是研究半導(dǎo)體性質(zhì)的重要手段。此設(shè)備根據(jù)半導(dǎo)體P-N 結(jié)、金-半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容(△C~t)技術(shù)和深能級瞬態(tài)譜(DLTS)的發(fā)射率窗技術(shù)測量出的深能級瞬態(tài)譜,是一種具有很高檢測靈敏度的實驗方法,能檢測半導(dǎo)體中微量雜質(zhì)、缺陷的深能級及界面態(tài)。通過對樣品的溫度掃描,可以給出表征半導(dǎo)體禁帶范圍內(nèi)的雜質(zhì)、缺陷深能級及界面態(tài)隨溫度(即能量)分布的DLTS 譜。
特點:
操作模式:
規(guī)格:
分辨率: | 1*108 atoms/cm3 |
脈沖發(fā)生器 | |
電壓范圍: | ±20.4V(±102opt.) |
電壓分辨率: | 0.625mV |
電流: | >±15mA |
脈沖寬度: | 1μs-1000s |
快速脈沖選配 | |
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電容表 | |
HF信號: | 100Mv@1MHz(20mV optional) |
范圍[pF]: | 3,30,300,3000(自動或手動) |
電容補償: | 0.1-3000 pF(自動或手動) |
靈敏度: | 0.01 fF |
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電壓測量 | |
范圍: | ±10V |
靈敏度: | <1μV |
輸入電阻: | 106Ohm |
可提供偏壓補償: | |
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電流測試 | |
范圍: | 5,從±1μA 到±10mA |
靈敏度: | <1pA |
可提供漏電保護(hù) | |
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瞬態(tài)記錄 | |
樣品速率: | 2μs到2000s |
樣品數(shù)量: | 16-16384(opt.64k) |
可調(diào)節(jié)抗失真濾膜 | |
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標(biāo)準(zhǔn)冷卻倉 | |
溫度范圍: | 15K-450K或77K~800K |
溫度掃描方式: | 使用28個不同的相關(guān)功能(軟件)通過一次溫度掃描,給出28個溫度掃描信號。 |
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典型性能(Schottky Diode,Reverse Bias Capacitance 100pF@OV) | |
靈敏度: | 10-7 |
能量精度: | HT+/-3% |
能量分辨率: | 10meV |
發(fā)射率: | 10-3/s |
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