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572 Helios NanoLab雙束電子顯微鏡

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一直以來,Helios NanoLab™ DualBeam™ 都綜合采用了電子和離子光學系統、配件和軟件,能夠納米量級研究提供強大的解決方案。對于從事納米技術前沿研究的科學家,Helios NanoLab 能讓他們拓展研究邊界,為材料研究開辟新的天地。 

借助亞納米SEM 成像技術S/TEM 超薄樣本制備能力,科學家能夠將Helios NanoLab 當作理想的研究伴侶,為未來的科技進步開發創新的新材料和納米量級器件。

Helios NanoLab 的材料科學應用

在材料科學領域,研究人員面臨的挑戰是持續改善目前制造的材料和設備的質量。為了實現技術進步,在納米量級了解結構和成分細節至關重要。Helios NanoLab 設計用來以低至亞納米量級的分辨率提供多尺度、多維度洞察,讓研究人員能夠觀測樣本微小的細節。Helios NanoLab 還可為原子分辨率S/TEM 成像迅速制備高質量的樣本。此外,如果研究工作包括開發MEMS 或NEMS 器件,也可配備Helios NanoLab 打造全功能原型。


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