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ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀

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ATP5020制冷微型光纖光譜儀制冷型/高分辨率/低噪聲一、產品概述ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀

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ATP5020 制冷微型光纖光譜儀
制冷型/高分辨率/低噪聲

ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀

一、產品概述

       ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀,它采用2048×64像素的制冷型線性CCD,CCD采用半導體制冷技術,CCD可工作在設定的恒溫環境(可達-15ºC),從而大幅降低了傳感器的噪聲,獲得了的信噪比(比同類競爭對手提高了約2倍),而且提高了ATP5020的測量可靠性,測量結果不隨環境溫度變化。 

       同時,奧譜天成為ATP5020特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路,其量化噪聲小于3 counts,為業界水平。ATP5020可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光,通過USB2.0或者UART端口,輸出測量所得的光譜數據。ATP5020只需要一個5V直流電源供電,非常便于集成使用。

二、特點:

  •  探測器:背照式CCD(制冷至-15 oC

  •  探測器像素:2048×64

  •  超低噪聲CCD信號處理電路

  • 光譜范圍: 600-1180nm

  • 光譜分辨率: 0.1-2 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

  • 光路結構:交叉C-T

  • 積分時間:2ms-130s

  •  供電電源:DC 5V±10% @ <2.3A

  • 18 bit, 570KHz A/DConverter

  • 光輸入接口:SMA905或自由空間

  • 數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART

  • 20針雙排可編程外擴接口

三、典型應用:

  • 拉曼光譜儀

  • 微量、快速分光光度計;

  • 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

  • 透過率、吸光度檢測;

  • 反射率檢測;

  • 紫外、可見和短波近紅外 

  • 波長檢測

探測器

類型

線陣背照式CCD   (制冷到 -1C)

探測光譜范圍

190-1100 nm

有效像素

2048×64

像元尺寸

14μm×14μm 

全量程范圍

~200 ke-

靈敏度

6.5 uV/e-

暗噪聲

6 e-

光學參數

波長范圍

600-1180 nm

光學分辨率

0.1-4   nm (取決于狹縫、光譜范圍)

性噪比

>1300:1 

動態范圍

5000:1

工作溫度

-10-40 oC

工作濕度

< 85%RH

光路參數

光學設計

f/4 交叉非對稱C-T光路

焦距

40 mm for incidence / 60 mm for   output

入射狹縫寬度

5、10、25、50、100、150、200 μm 可選,其他尺寸可定制

入射光接口

SMA905光纖接口、自由空間

電氣參數

積分時間

1 ms - 130 second

數據輸出接口

USB 2.0

ADC位深

18   bit

供電電源

DC 5V±10%

工作電流

<2.3A

存儲溫度

-20°C   to +70°C

操作溫度

-10°C   to +40°C

物理參數

尺寸

170×110×52 mm3

重量

0.8 kg

Sealing

Anti-sweat

ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀
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