基于25年涂鍍層測量經驗,在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上,引進全新的設計:
●新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的大的X射線管。提高30%測量精度,同時減少50%測量時間
●更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器,可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置,同時提供更高精度的Y軸控制。
●距離獨立測量(DIM) - 更靈活地特殊形狀樣品,可在DIM范圍內12.5-90mm(0.5-3.5inch)對樣品表面進行測量,Z軸可控制范圍為230mm(9inch)。可通過手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準。
●自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離,改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
●全新的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。
● 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制(250x250mm或10x10英寸)/固定樣品臺;標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
●內置PC用戶界面
主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 |
X射線激發(fā)和檢測 | 牛津儀器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管 |
高分辨封氣(Xe)正比計數(shù)器可獲取的計數(shù)靈敏度,配合二次濾光器機構實現(xiàn)的檢出效果 |
數(shù)字脈沖處理 | 4096通道數(shù)字多道分析器,數(shù)字光譜處理過程可獲取的信號采集(每秒計數(shù)量),從而保證測量統(tǒng)計結果 |
手動或自動透鏡控制 | 手動透鏡控制:通過手動調整DIM旋鈕控制分析聚焦距離 |
自動透鏡控制:激光束自動尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離 |
自由距離測定 | 簡化系統(tǒng)設置和維護 |
在聚焦距離范圍內僅需要一個校正 |
對不規(guī)則樣品更靈活的測量 |
在12.7mm-88.9mm的自由距離內,可準確測量樣品表面的任何一點 |
通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能,可快速、準確的確定聚焦距離 |
附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦 | 的、自動樣品擺放系統(tǒng) |
激光掃描單鍵啟動 |
消除樣品碰擊Z軸的機會 |
改善DIM的聚焦過程 |
標準激光聚焦 | 標準激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上,自動尋找正確的Z軸位置,提高分析再現(xiàn)性,結果不受人為操作的影響 |
Z軸聚焦掃描單鍵啟動 |
改善DIM和常規(guī)固定焦距測量時的聚焦過程 |
微小準直器 | 儀器至少裝備一個客戶規(guī)格的準直器以化測量,并提高測量效率 |
備有各種規(guī)格準直器(0.015mm – 0.5mm),園形或矩形供客戶選用 |
多準直器程序交換系統(tǒng)可同時安裝4個準直器 |
大樣品室設計 | 方便超大樣品的推拉式平臺:如大面積PCB板、較長的管材樣品 |
大型開發(fā)式樣品室:方便于從各方向進樣和觀察樣品 |
三種樣品臺備選:可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺 |
標準配置自動化Z軸:高度230mm |
集成化計算機 | 工作站式設計:改善人機工程學、方便使用 |
簡化設備安裝:僅需要接入主電源線,沒有其他電纜 |
減少整機占用空間 |
USB和Ethernet接口:打印機、刻錄機、局域網和遠程在線支持功能 |
其他硬件特點 | CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能,可實現(xiàn)對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測 |
溫度補償功能監(jiān)測系統(tǒng)溫度,并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移,保證長期的儀器穩(wěn)定性的儀器漂移,保證長期的儀器穩(wěn)定性 |
光譜校準、單擊鼠標執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序保證儀器長期的穩(wěn)定性 |
堅實耐用的儀器設計適用于各種工業(yè)環(huán)境 |
一體化工作站設計實現(xiàn)的人機工程學 |
X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器,能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保的信/躁比,從而降低檢測下限。探測器分辨率,能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級,確保產品滿足環(huán)保要求,幫助企業(yè)降低高昂的產品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型:經驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域,即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品,大艙門使樣品更易放入。