X射線管:40kV 濾光片:單一 檢測器:大面積 SDD 樣本溫度:400C 符合 IP54 等級 Thick Kapton窗口:保護以預防探測器的窗戶損壞 校準:基本參數法(FP) 內置攝像頭 (可選)
手持式X光熒光分析儀(HH)的提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)的準確化學結構分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結果。
我們提供多種型號的產品,符合您不同應用的所有分析需要和預算。
X-MET提供的輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測限度低,且可每天提供準確可靠結果。
通過靈活的基本參數法(FP)法進行分析,從而測試多種材料;或若需結果可追溯和高度準確,則使用實證校準。
大觸摸屏和基于圖標的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。
X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡潔、平衡性好,可供長時間使用,而疲勞度。
靈活:可將多達100,000條結果保存在X-MET上,將報告輸出到U盤或個人計算機,或自動將X-MET數據存儲在LiveData云端。
X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
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廢金屬回收 | ? | ? | ? |
材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | ? | ? | |
制造與 PMI QA/QC | ? | ? | ? |
貴金屬 | ? | ? | ? |
監管機構合規篩查 (消費品、包裝、原材料…) | ? | ? | |
環境土壤篩查 | ? X-MET8000 Expert Geo | ||
環境土壤篩查 | ? X-MET8000 Expert Geo | ||
金屬鍍層厚度測量 | ? | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG |
科技考古 | ? | ? X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
為預防潛在產品事故及其昂貴的后果,在不同生產階段中進行質量控制和質量保證至關重要。通過手持式X射線熒光(HHXRF),您可以在進料送達時進行快速檢查,并且確認從制造到送貨過程中使用了合格的合金材料。
為何選擇X-MET8000 系列手持式合金分析儀來完成此任務?
X-MET提供:
材料可靠性鑒定(PMI)計劃使工廠操作員和維修員可測試安裝前后的關鍵流程組件,以確保資產完整性,并預防潛在的災難性故障。通過手持式X射線熒光分析儀(HHXRF),您可以在幾秒內在現場上確認合金的牌號及其元素化學成分。您無需再依賴供應商的認證。
為何選擇 X-MET8000 手持式光譜儀進行PMI檢查?
每年,超過4億噸廢金屬被處理。通過檢測對廢金屬進行分類,從將混合廢料分類為低價值和高價值材料,到確定進入熔體的廢料成分和產出質量,金屬回收過程中的各個階段都可增加價值。我們的X-MET分析儀被用于在世界各地的廢金屬加工和回收市場,為金屬回收過程中的每個階段增添價值。
為什么選擇X-MET8000?
X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析儀在采礦的多個階段——從早期探索到現場關閉后的環境監控——提供快速、現場的地球化學分析。這極大減少了對實驗室分析的需求,加快了決策過程并降低了檢測成本。
為什么選擇X-MET8000 Expert Geo?
土壤污染逐漸由工業流程(如采礦和制造)、農業(使用肥料和殺蟲劑)或廢物處理(如錯誤地進行垃圾填埋)等人類活動造成。
暴露在某些污染物中如鉛和鎘等元素對人體健康有害,許多國家已經制定了相關法規和方案,以識別污染區域并管理修復過程(補救)。
例如,作為美國廢物管理計劃的一部分,美國引入了6200標準,通過現場便攜式/手持式X射線熒光(XRF)光譜法,確定土壤和沉積物中的關鍵元素。
操作者可以使用HHXRF,快速在現場篩選重金屬和其他污染物。這使他們能夠極大減少送到場外實驗室進行分析的樣本數量,并降低了分析成本和完成測試程序所需的時間。通過孤立問題區域和在現場確定補救邊界,操作者可限度地減少土壤處理和處置成本。
為何選擇X-MET8000 Expert Geo?
無論您是電子設備、兒童產品和其他消費品的制造商、零售商或進口商,您都將受到關于限制有害物質(RoHS)以及其他指令(例如2008年CPSIA - 消費者產品安全改進法、包裝指令,WEEE - 電子電氣設備廢棄物、CA 65號等)的影響。這些指令已經在不同的地區被制定,以提高產品的安全性,并通過控制產品的“上游”來源和處理技術,減少環境污染物。這一立法影響到各個行業,包括原材料供應商,組件和成品制造商和零售商。
通過X射線熒光(XRF)進行合規性篩查,提供了被測組件元素化學成分的信息。因其速度快且無損,因此被廣泛使用,且收到標準檢測程序(如IEC 62321方法)的支持。
為什么選擇X-MET8000 Expert CG?
金屬涂層在許多行業中被使用,并被用于裝飾用途(如鏡面拋光、金色),以增強耐腐蝕性、提高可焊性、增加硬度、減少摩擦和磨損等等。
為確保所覆涂層的厚度足以賦予零件和部件其所需的性能,且不會因涂層過厚而浪費材料,電鍍公司需控制其工藝,并檢查最終產品是否符合規格。
基于X射線熒光(XRF)的涂層厚度測量是一種被廣泛接受和被業界認可的分析技術。手持式XRF提供全面的多功能性:您可以將分析儀帶到需要測試的地方。
為什么選擇X-MET8000?
手持式X射線熒光(HHXRF)經常被用于藝術和歷史文物的鑒定、保存和修復過程。這是一種非侵入式的技術,可以在幾秒鐘內識別油墨、顏料、陶瓷、青銅和其他合金,無需采樣或準備測試品。分析可以顯示物品或部件的日期和/或出處,例如檢測釉中的特定顏料,識別僅在特定時期被使用的瓷器 。手持式XRF分析還可以通過檢查物體表面的元素組成,確定物體的哪一部分被修補,并且可輕松發現差異。
為什么選擇X-MET8000?
手持式X射線熒光(HHXRF)分析儀通常被用于檢測珠寶和其他貴金屬物品(如硬幣、銀器),以檢驗真偽并確定其價值。貴金屬(如金(Au)和鉑(Pt))的高價格意味著,成分的微小差別會產生巨大的產品價值差異。 HHXRF具有許多優點:快速、無損(對被測物品無劃痕或損壞、不會造成材料損失),并可為大型和小型貴金屬物品提供多元素分析。
為什么選擇X-MET8000?
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