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BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008

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THz-TDS太赫茲時域光譜儀背景知識基于超快激光的THz脈沖產(chǎn)生與探測技術(shù)發(fā)展起來的太赫茲時域光譜儀(Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS)技術(shù)。

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THz-TDS太赫茲時域光譜儀背景知識

基于超快激光的THz脈沖產(chǎn)生與探測技術(shù)發(fā)展起來的太赫茲時域光譜儀(Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS)技術(shù),是本世紀(jì)80年代由AT&T貝爾實(shí)驗(yàn)室(AT&T Bell Laboratories)和IBM公司的T.J.Waston研究中心(IBM Thomas J. Watson Research Center)提出的。BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS技術(shù)屬于電磁輻射位相相干探測技術(shù),是通過對THz脈沖不同時刻的電場強(qiáng)度進(jìn)行位相相關(guān)的取樣測量,獲得THz脈沖電場的時域波形。再對THz時域波形進(jìn)行傅立葉變換,獲得THz脈沖電場頻譜和位相信息。因此,太赫茲時域光譜儀THz-TDS可以同時直接探測被研究對象擾動的THz波電場振幅和相位雙重信息。

Batop公司簡介

BATOP成立于2003年,是一家曾隸屬于德國耶拿大學(xué)的私人創(chuàng)新型公司。公司配備了來自于實(shí)驗(yàn)室領(lǐng)域的專業(yè)化技術(shù)開發(fā)和生產(chǎn)設(shè)計團(tuán)隊(duì),使得其公司產(chǎn)品具有很高的品質(zhì)和具有競爭力的價格。在過去幾年里,BATOP一直致力于太赫茲光電導(dǎo)天線PCA太赫茲時域光譜儀系統(tǒng)THz-TDS的研發(fā)。BATOP不僅提供單帶隙光電導(dǎo)天線,還包括整合了微透鏡的高能大狹縫交叉光電導(dǎo)天線陣列BATOP自主研發(fā)的太赫茲時域光譜儀THz-TDS性能穩(wěn)定,各項(xiàng)參數(shù)優(yōu)良,功能多樣:可實(shí)現(xiàn)快速掃描、配合外置的光纖耦合天線實(shí)現(xiàn)角度掃描、成像等功能。 BATOP借助強(qiáng)大的研發(fā)能力來不斷提高自己的產(chǎn)品。

BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖1)

太赫茲時域光譜儀TDS10XX產(chǎn)品特點(diǎn):

——內(nèi)置樣品倉,可充氮?dú)?/span>進(jìn)行透反射測量

——規(guī)格多樣的外置光纖耦合光電導(dǎo)天線可選

——外置角度掃描裝置可選

——外置成像模塊可選

——T3DS軟件支持


    TDS10XX太赫茲時域光譜儀各型號參數(shù)規(guī)格:



THz-TDS1008 THz-TDS1010THz-TDS1015
頻譜范圍0.05-4THz
0.05-2.5THz
0.05-1.2THz
動態(tài)范圍75dB
60dB
50dB
掃描范圍/分辨率500ps / 2GHz
500ps / 2GHz
500ps / 2GHz
THz光斑尺寸22mm(準(zhǔn)直)/1-3mm(聚焦)
22mm(準(zhǔn)直)/1-3mm(聚焦)
22mm(準(zhǔn)直)/1-3mm(聚焦)
儀器尺寸(cm390×60×30
60×60×30
60×60×30





太赫茲時域光譜儀TDS10XX可選配件:

BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖3)                                  BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖4)

                       快速掃描模塊 FSU                                                              光纖耦合天線對 2FCA




BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖5)                                      BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖6)

成像模塊 IU (電機(jī)行程可選15cm、30cm 、45cm)                                            角度掃描模塊 T2T



BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖7)                                      BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖8)

透射樣品架 SHT(放在樣品倉內(nèi),用于透射譜測試)                           反射樣品架 SHR(放在樣品倉內(nèi),用于反射譜測試



BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖9)                        BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖10)

      光纖耦合天線樣品架 SHF(可測試透射反射譜)                          衰減全反射樣品架 SHA(用于衰減全反射ATR測試)


2歐元硬幣成像:

BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖11)




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