Planum-3000平面光學元件光譜分析儀全自動透光率/反射率分析儀型號：Planum-3000用途：用于各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量
Planum-3000平面光學元件光譜分析儀
全自動透光率/反射率分析儀
型號：Planum-3000
用途：用于各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量。可進行多角度相對/
反射率、透過率測量，偏振光測量，膜性測量。
Planum-3000平面光學元件光譜分析儀-適宜測量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學性能。
操作軟件界面
平面光學元件光譜分析儀的技術參數：
型號 Planum-3000（Ⅰ型） Planum-3000（Ⅲ型） 探測器 Sony線形CCD 陣列 Hamamatsu背照式2D-CCD 檢測范圍 380-1000nm 360-1100nm 波長分辨率 1nm 1nm 信噪比（全信號） 250:1 1000:1 相對檢測誤差 ﹤1%（400-800nm） ﹤0.2%（400-800nm） 重復定位精度 ﹤0.005° 透射測量角度 0-80°（小樣品0-50°） 反射測量角度 10-80°（可擴展到5°） 樣品尺寸 ﹥Φ5mm 單次測量時間 <1ms S/P光測量 支持 其他 可自定義打印報告格式，開放式光學材料數據庫
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