德國蔡司 MultiSEM 研究合作計劃速度非凡的掃描電子顯微鏡
借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時的連續、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數據采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。
使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM：您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。
91 條電子束同時工作，擁有出色的成像速度。
在幾分鐘內對1 mm2的區域成像，分辨率高達 4 nm。
借助經優化的二次電子探測器，以低信噪比采集高襯度圖像。
MultiSEM 配備有一個可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。
對整個樣品成像并發現所有細節，助力于科研。
自動采集方案可實現大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像，且不丟失可見信息。
使用成熟的ZEN軟件簡便直觀地操控 MultiSEM，該軟件被應用于所有蔡司成像系統
智能化自動調節程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像
根據樣品的實際情況，快速輕松地創建復雜的自動采集流程
MultiSEM的ZEN 軟件可高速進行連續并行成像
開放的API軟件接口可提供靈活快速的應用開發
MultiSEM 同時運用了多條電子束（綠色：照明通路）和多個探測器。微調探測通路能夠收集大量的二次電子（SE）用于成像。與分光鏡組合使用，可讓二次電子信號到達（紅色：探測通路）多探測器陣列。每條電子束在樣品的一個位置執行同步掃描程序，以此獲得單個拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過合并所有圖像拼片生成整幅圖像。
并行計算機設置程序用于快速記錄數據，確保整體高成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中獨立。
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