美國Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，好的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。元素檢測薄膜TF-160

一、美國Premier XRF樣品膜：

美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領域，以高質量和全面的X射線的樣品制備產品線享譽。

美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其低的（幾乎不含）雜質和厚度均勻而嚴格生產，好的柔韌性和抗化學腐蝕性，保證檢測結果的可靠性和重現性，被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。元素檢測薄膜TF-160

X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。元素檢測薄膜TF-160

二、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

目錄編號：

CAT. NO 薄膜材料       厚度       長度       數量       描述

TF-160    Mylar邁拉膜 6.0μ(0.24mil)      76mm x 91.4m      1卷/盒    Mylar®Rolls連續卷軸