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日本therma熱成像范圍TSI

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日本therma熱成像范圍TSI

激光加熱功能
微距攝影光學系統(分辨率約20μm)
高性能紅外熱像儀(7.5μm至13.5μm)
*的降噪技術

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日本therma熱成像范圍TSI

日本therma熱成像范圍TSI

日本therma熱成像范圍TSI

可視化加熱產生的空隙和裂縫

提高能源效率是節能的重要主題。著眼于電子設備的功耗問題,該設備可以通過可視化和量化設備內部的熱特性來評估界面的熱擴散率。此外,鉆石和DLC的導熱系數高,可以節省能源,但評估允許熱量從其界面逸出的熱擴散系數非常重要。此外,據說這些物質之間的界面的粘附性影響性能。該設備旨在評估熱量對界面的附著力。

熱成像范圍TSI

特征

  • 激光加熱功能
  • 微距攝影光學系統(分辨率約20μm)
  • 高性能紅外熱像儀(7.5μm至13.5μm)
  • *的降噪技術

主要規格

 TSI-2
基本表現測量目標樣品缺陷,異質性,紅外輻射,簡單的溫度,熱性質
輸出數據頻率,距離,幅度,相位,亮度,圖像數據
分析模式點/區域分析,相位分析
附加其他溫度調制加熱器,控制/分析軟件,PC
測量環境溫度室溫?250 [℃]
測量頻率0.1-10 [Hz]
紅外攝像機元素數336 x 256
元素類型VOx微測輻射熱儀
像素大小17 [微米]
觀察波段7.5至13.5 [μm]
幀率30 [Hz]
解析度約30 [μm]
半導體激光器(連續振蕩)波長808 [納米]
大輸出5 [W]
正弦波調制0.1至30 [Hz]
舞臺動作范圍水平(XY軸)方向±15 [毫米]
垂直(Z軸)方向+50 [mm]
電源AC100-240 [V],10-5 [A],50/60 [Hz]
設備主體外形尺寸寬552 x深602 x高657 [mm]
重量76.5 [公斤]
激光安全標準CLASS1,IEC / EN 60825-1:2007

與常規無損檢測設備的比較

 TSI-2X射線探傷超聲波顯微鏡
得到什么對比?○導熱系數的差異(可以進行觀察)○X射線透過量○超聲波反射或速度差異
樣品處理◎不需要◎不需要△需要淹沒
解析度△約20μm◎1微米○1μm(但是,與觀察深度存在取舍關系)
滲透△適合在地面附近觀察。◎高。可以使用CT方法。(金屬很難穿透)△根據頻率而變化。分辨率也會改變。
觀察范圍◎更換方便。廣泛的支持△由于安全原因,觀察范圍受到限制。△安裝在水族箱中。需要掃描。觀察范圍是有限的。
觀察時間◎實時◎實時△需要掃描

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深圳市秋山貿易有限公司

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