SS410-XE（OMM，光學測量模塊）是一個綜合測試型模塊，多可以配置三個功能器件，包括CCD相機、光譜輻射計和響應時間模塊(RTM)，分別對應不同的測試功能，CCD相機主要用于空間測量，包括點分析、線寬、收斂、時間方差、MTF等；光譜輻射計主要用于測量亮度、色度、均勻度、光譜圖、Gamma、對比度等；RTM用于時間測量，包括運動/模糊、上升時間、下降時間、灰度轉換時間、閃爍等，可根據具體測量需求進行組合。SS410可以單獨安裝在支架上進行單點測量，也可以安裝在位移臺上，用于自動測量顯示屏的不同位置。
顯示屏光電性能測試儀-平板顯示自動光學測試儀-SS410 產品描述：
顯示屏光電性能測試儀-平板顯示自動光學測試儀-SS410 （OMM，光學測量模塊）是Microvision 提供的一個綜合測試型模塊，多可以配置三個功能器件，包括CCD相機、光譜輻射計和響應時間模塊(RTM)，分別對應不同的測試功能，CCD相機主要用于空間測量，包括點分析、線寬、收斂、時間方差、MTF等；光譜輻射計主要用于測量亮度、色度、均勻度、光譜圖、Gamma、對比度等；RTM用于時間測量，包括運動/模糊、上升時間、下降時間、灰度轉換時間、閃爍等，可根據具體測量需求進行組合。Mircovision SS410可以單獨安裝在支架上進行單點測量，也可以安裝在位移臺上，用于自動測量顯示屏的不同位置。
工作原理：
SS410光學模塊可容納三個可選的測量設備：一個高分辨率的二維CCD相機、一個衍射光柵光譜儀和響應時間模塊或RTM。CCD相機是一種用于空間測量的二維陣列，其高倍放大功能可以詳細分析顯示特性，例如字符對比度、收斂性、線寬、抖動、射束著陸等，還用于測量顯示的較大尺寸幾何圖形的參數。光譜儀使用衍射光柵和光纖透鏡組件來收集光學信息，僅用于顏色和亮度的測量。響應時間模塊（RTM）包含一個光電二極管檢測器，并包含一個類似CCD相機的光學系統。RTM的主要功能是測量各種LCD顯示器的灰度和升降時間。該設計中包含了對視頻處理的*控制，這一特性可以實現與UUT真正的幀同步，測量數據可以逐幀地采集和處理。
產品亮點：
應用范圍：
升級選項：
技術參數：
CCD相機
Spectrometer光譜輻射計
RTM 時間響應模塊
測試案例:
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