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EPP系列 光纖光譜儀

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EPP2000 高分辨率光纖光譜儀 – 用于UV-VIS-NIR 應用。低成本,高性能,適用于高分辨率科研要求,*高分辨率可以做到0.1nm。特別是用于激光和LED的波長測試和表征,更適用于LIBS激光誘導等離子體發光測試中。

EPP2000 高分辨率光譜儀  預估分辨率
型號波長范圍(nm)光柵刻劃線(g/mm)一次攝譜范圍線色散倒數Slit-25
nm res.
Slit-14
nm res.
Slit-7
nm res
.
UV3200-34018001400.0680.300.200.10
UV4200-3002400 1000.0480.210.140.07
NIR2900-107512001750.0850.260.170.09
NIR3750-85018001000.0490.150.100.05
NIR4500-5802400800.0390.120.080.04
UVN-SR200-1100*3009000.4401.501.000.50

性能參數:
動態范圍: 2000:1 with 6 decades尺寸: 44 x 94 x 150 mm
光譜分辨率: see model table - to 0.1nm功耗: 100 mA @ 5 VDC
探測器類型: 2048 pixel CCD接口: USB-2 and/or EPP Parallel
探測器范圍: 200-1200nm信噪比: 1000:1 CCD
像素尺寸: 14um x 200um積分時間: 1ms to 65s
AD轉換: 16-bit or 14-bit狹縫大小: 7, 14, 25, 50, 100, 200um
光柵刻劃線g/mm: 300, 600,1200,1800, 2400雜散光: <.1% at 435nm;<.05% at 600nm


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