當前位置:儀器網 > 產品中心 > 物性測試儀器及設備>表界面物性測試>納米壓痕儀、納米劃痕儀>G200 納米力學測試系統
返回產品中心>安捷倫 Nano Instruments推出的新型Nano Indenter G200,是在微、納米尺度上研究材料性質的zui為*的測試平臺。
Nano Indenter G200
安捷倫 Nano Instruments推出的新型Nano Indenter G200,是在微、納米尺度上研究材料性質的zui為*的測試平臺。其*的移動系統可加快樣品處理量,而不影響測試準確性。產品符合ISO 14577-1、2和3標準,確保了測試的準確性與重現性。
Nano Indenter G200系統不僅是進行納
米壓痕實驗的旗艦產品,也可以用于其它類型的測試,例如力學探針、劃痕試驗及納米力學顯微鏡。擁有一臺來自安捷倫的Nano Indenter G200系統,您可以進行大量不同的測試,體驗的控制水平。
設計優勢
擁有一套安捷倫納米力學測試系統所具有的優勢是從核心技術的設計開始。所有納米壓痕實驗均依賴zui基本的載荷與位移數據,對樣品上所加載荷要求進行zui精密的控制。 安捷倫的每一款Nano Indenter系統均由基于電磁激勵的載荷傳感器驅動,以消除任何可能產生力的漂移的因素。當壓頭被壓入樣品中時,位移數值利用一個電容傳感器進行測量。采用二片彈簧*設計的壓痕組元在水平向具有較強的剛性,而在垂直向上保持較好的柔性。
裝載樣品臺
我們*的系統設計確保了測試結果的可靠性,產品優勢除該核心技術之外,也同時賦予了用戶靈活性與可控制性的特點。在同行業的TestWorks 4軟件不僅可以自動進行測試,也可以使用戶利用網絡遠程遙控進行實驗控制。有了TestWorks,您可以根據實驗條件隨時改變數據記錄速率,從而獲取您所需要的資料。該特色使用戶可以進行數據記錄速率的優化,并管理測試文件的大小。
特色
優點
*您想獲取產品的資料:
個人信息: