SOC710M高光譜顯微成像系統(tǒng)將顯微技術與高光譜成像技術相結合，可在獲得樣品精細空間圖像的同時得到高光譜信息，為生物醫(yī)學、農業(yè)育種、植物科學、礦物質研究和高分子材料微結構分析提供了全新的技術手段，具有廣闊的應用前景。本系統(tǒng)可用于病理學、細胞遺傳學、植物科學、組織學、免疫組織化學、材料學、制藥學、礦物分析等方面；在生命科學領域，它還可以廣泛應用于染色體識別 、癌癥診斷 、皮膚病檢查 、細胞功能研究 、蛋白質相互作用研究等許多方面；在材料領域，特別是對發(fā)光材料的分析，例如Si基納米材料的研究； 在石油化工領域，它可以用于分析含油巖心表面的熒光光譜信息和空間信息，研究巖心中的石油運移信息。

SOC710M主要特點 —— 便捷、穩(wěn)定、快速

n 雙CCD設計，直接預覽測量區(qū)域，所見即所得

n 內置式掃描，圖像無畸變，自動扣除暗電流
n 不僅可獲取目標反射率，還可獲取輻亮度值
n 快速安裝，不需要對顯微鏡進行任何改裝
n 可自動連續(xù)測量，監(jiān)測目標光譜動態(tài)變化
n 軟件自帶數(shù)據(jù)標定、高光譜分類等多種功能
n 適應任意三目顯微鏡，滿足多種顯微需求
n 提供雙光纖鹵素冷光源，適應專業(yè)照明要求
n 可滿足顯微鏡-實驗臺-野外等多種使用條件

注：顯微鏡可由用戶自行配置， C接口三目顯微鏡均可連接使用

SOC710M高光譜顯微成像系統(tǒng)應用案例：

                     醫(yī)學中癌細胞顯微高光譜檢測                                            大腸桿菌標記顯微高光譜識別

          礦石顯微光譜圖，藍色與綠色區(qū)域為斜輝石                              碳鐵化合物SAM光譜角制圖分類 

                                葉片不同部位光譜曲線                                               葉片不同組織SAM光譜角制圖分類

產地：美國