當前位置:儀器網 > 產品中心 > 光學儀器及設備>電子顯微鏡>透射電子顯微鏡(透射電鏡、TEM)> 離子減簿儀 Leica EM RES102
返回產品中心>使用徠卡 EM RES102,使您的樣品具備水平的靈活性,具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結構。*的離子束研磨系統結合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點。各種樣品架可以進行多元化應用。除了高能量的離子銑工藝,徠卡EM RES102也可適于采用低離子能量處理非常柔軟的樣本。
Leica EM RES102 可對樣品進行離子束減薄,清潔,截面切割,拋光以及襯度增強,這*滿足了您對應用需求的多樣化和便利性。
操作簡便
? 19”觸摸屏電腦控制單元,監控并記錄制樣過程
? 內置應用參數庫
? 程序化制樣參數設定,加速初學者學習曲線
? 幫助文件幫助初學者以及對設備進行維護
高效/節約成本
? TEM,SEM和LM應用功能集于一體
? TEM樣品制備獲得的薄區大,有效提高了TEM樣品制備效率
? SEM樣品制備大可達25mm樣品直徑
? 預抽室系統幫助快速交換樣品,減少等待時間,并保證了樣品室的持續高真空
? 局域網功能方便遠程操控
? LN2樣品臺使得溫度敏感型樣品可在優化條件下進行離子研磨
? 精確的自動終止功能,適用于光學終止或透明樣品的法拉第杯終止
? 在制樣過程中可以時時存儲活圖像或視頻
? 離子源和樣品運動馬達驅動,程序化控制,因而可獲得重復性制樣結
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