光譜中性衰減低透過率模擬器-化學(xué)計量器具：在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的小分度示值。

光譜中性衰減低透過率模擬器-化學(xué)計量器具：

光譜中性衰減低透過率模擬器-化學(xué)計量器具：

產(chǎn)品概述：

         XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器，在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的小分度示值。

 XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器，在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的小分度示值。

?XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器，在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的小分度示值。

?XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器，在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的小分度示值。