新型FT160 XRF鍍層分析儀適用于當今微型電子器件的先進微焦斑和超薄鍍層分析儀

納米級鍍層的快速、準確分析
 

　　FT160 XRF鍍層分析儀準確、可靠地測量小部件上的鍍層，有助于您在PCB、半導體晶片和微連接器上維持一致且準確的鍍層。
 

　　FT160專為微焦斑和超薄鍍層分析而設計，針對小部件的測量優化了光學系統和探測器技術。
 

　　使用FT160 XRF鍍層分析儀可實現更多操作：
 

　　高強度X射線——儀器的核心是一個具有30μm光束的新型毛細管光學系統，非常適合微小的半導體圖案和超小組件。
 

　　高靈敏度的SDD探測器——這款高性能設備使計數速率翻倍，從而提高生產率。
 

　　高清相機——觀察相機的分辨率高，其具有16倍數字變焦功能，更容易觀察半導體和PCB表面并易于導航。
 

　　智能控制器軟件——可對FT160進行依照形狀和圖案自動查找測量位置的編程，以提高測量吞吐量和準確性。
 

　　精密分析
 

　　樣品臺定位精度和毛細管X射線光學系統能提供高精度，可測量尺寸小于50µm的部件上的納米級鍍層。
 

　　快速分析
 

　　與傳統裝置相比，FT160內的新型高強度毛細管光學系統和改良版SDD探測器有助于使儀器的測量吞吐量翻倍。
 

　　多功能性
 

　　大型樣品門有助于輕松裝載和移除部件，同時大型樣品臺可容納各種形狀和尺寸的組件。
 

　　耐用性
 

　　堅固耐用的機架經過設計和測試，可在具有挑戰性的生產或實驗室環境中長時間使用。
 

　　FT160的強大功能使其成為工作繁重的實驗室的理想選擇。為維持工作流程，這些實驗室注重準確性、多功能性和分析效率。
 

　　FT160能夠提供：
 

　　|毛細管光學系統和高靈敏度的SDD探測器，以提供出色準確性。
 

　　|測量尺寸小于50µm的部件。
 

　　|快速結果和使用簡易性，以支持高吞吐量。
 

　　|用于快速設置樣品的大型樣品門和樣品臺。
 

　　|進行測試觀察的大型樣品觀察窗。