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COULOSCOPE CMS2-菲希爾電解測厚儀及配件
儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）
電解測厚儀又叫做庫侖法測厚儀，應用于電鍍層的測厚。電解測厚儀可以解決裝飾鉻層厚度、同層厚度、鋅層測厚、錫層測厚、銀層厚度、金層厚度、鎘、硬鉻、化學鎳、多層鎳等鍍層測厚問題。電解測厚儀具有測試多層復合測量模式等特點，適用于汽車摩托車、航空航天、自行車、電器、日用五金、潔具衛浴、塑膠電鍍、釹-鐵-硼、標準件等行業及技術監督部門及科研機構。
電解測厚儀是利用法拉第原理設計，其過程類似于電鍍，但電化學反應的方向相反，是電解除鍍。庫侖法測厚是對被測部分的金屬鍍層進行局部陽極溶解，通過陽極溶解鍍層達到基體時的電位變化及所需時間來進行鍍層厚度的測量。
產品特點：
| 1 | V18測量臺通過控制氣泵具有自動充填和清空測量槽中電解液功能 |
| 2 | 大幅液晶顯示屏便于操作和顯示測量結果 |
| 3 | Couloscope CMS2庫侖法測厚儀德國fischer*測厚儀，使用庫侖析法電解鍍層,符合 DIN EN ISO 2177標準 |
| 4 | COULOSCOPE CMS地測量范圍在0.05 - 40 μm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設備可以存儲上百條預先定義好的鍍層/基材應用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。 |
| 5 | 使用庫侖方法測量鍍層厚度，配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統，該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。適用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。 |
庫侖分析法創立于1940年左右，其理論基礎就是法拉第電解定律。庫侖分析法是對試樣溶液進行電解，但它不需要稱量電極上析出物的質量，而是通過測量電解過程中所消耗的電量，由法拉第電解定律計算出分析結果。為此，在庫侖分析中，必須保證：電極反應專一，電流效率100%，否則，不能應用此定律。以測量電解過程中被測物質在電極上發生電化學反應所消耗的電量來進行定量分析的一種電化學分析法。
根據電解方式分為控制電位庫侖分析法和恒電流庫侖滴定法。
①控制電位庫侖分析法。在電解過程中，將工作電極電位調節到一個所需要的數值并保持恒定，直到電解電流降到零，由庫侖計記錄電解過程所消耗的電量，由此計算出被測物質的含量。
德國庫倫測厚儀Couloscope CMS2
COULOSCOPE CMS STEP介紹：
儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）
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