德國nanofilm公司于1991年開發出了世界上*臺Brewster角顯微鏡(BAM)。近幾年來，nanofilm又相繼推出了不同用途的BAM產品以及相應的配套儀器。

[EP3] 德國nanofilm公司于1991年開發出了世界上*臺Brewster角顯微鏡(BAM)，該儀器主要用于薄層膜的觀察。近幾年來，nanofilm又相繼推出了不同用途的BAM產品以及相應的配套儀器，其款的EP3橢圓偏振成相系統把橢圓偏振法與顯微鏡法相結合，為其進入到生物分析和微電子等新的研究領域提供了可能。 應用領域： 橢圓光度法是一種非破壞性和無需標記的、用于確定膜厚和材料光學特性的方法。通過把橢圓光度法與顯微鏡法相結合，影像橢圓光度儀不斷改進，平面精度已經能夠達到1μm，立體精度已提高到1nm，為其進入到生物分析和微電子等新的研究區域提供了可能。EP3是德國nanofilm公司zui近推出的新一代橢圓光度儀產品。主要應用于以下各種*領域： 生物芯片：同次性、膜厚、雜交、動力學等測量 LB/單層/自組合單層膜/活性劑：檢測LB膜的結構、單層膜厚度、界面吸附等 接觸印刷：小于1μm微結構的質量控制、膜厚測量、測量折射率和吸附 磁盤：同次性、膜硬度 (油)膜厚度、光學產品磁光學結果的觀察 納米粒子：納米粒子上的一小塊區域、折射率和吸附的分布 聚合物：膜厚、折射率和吸附測量 主要特點 采用高精度回零橢圓光度法 出色的空間分辨率(1μm), 大面積圖像橢圓光度法（多達若干cm2） 單一或多重的激光波長 新穎的自動測角計，用于入射角調整n EP3View軟件，用于儀器控制和基于Windows?的數據分析 多重關注區域及Δ，Ψ繪圖n 可通過局部網絡實現遠程控制和服務 技術參數 原理 PCSA 配置的自動回零（ Auto-Nulling ）圖像橢圓光度法 橢圓光度分辨率 Delta/Psi 精度 0.001 deg 　　精度 0.01 deg （依賴于樣品與測量條件） 立體分辨率 1~35μm （平面解析精度： 1μm ，縱向解析精度： 1 nm ） 激光器波長 標準為 : 532 nm 　可選 405, 488, 514, 543, 594, 633, 650, 690, 785, 830, 905, nm 靈敏度 0.05~0.2nm 解析時間 快， 22×73mm 在 1.2μm 精度下只需不到一分鐘的時間 圖像系統 768 x 572 像素 CCD 照相機 電子組件 內置基于 Pentium 芯片的控制器，帶 Matrox Meteor II 抓圖器； 內置 Linux 操作系統；通過 100M 以太網與主機相連 電源 電壓： 100 – 240 VAC, 50/60Hz zui大電流 : 10 A