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FM-NanoviewOp-AFM 光學原子力顯微鏡一體機

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光學原子力顯微鏡一體機工作模式:接觸、輕敲、F-Z力曲線測量、RMS-Z曲線測量、摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力和靜電力,可選配液體模式

詳細信息 在線詢價

光學原子力顯微鏡一體機技術參數

◆ 原子力工作模式:接觸、輕敲、F-Z力曲線測量、RMS-Z曲線測量、摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力和靜電力,可選配液體模式
◆ 原子力掃描范圍:XY向20um,Z向2um(可選配XY向50um,Z向5um)
◆ 樣品尺寸:Φ≤90mm,H≤20mm
◆ 掃描分辨率:XY向0.2nm,Z向0.05nm
◆ 樣品移動范圍:0~20mm
◆ 光學物鏡:5X,10X,20X,50X平場復消色差
◆ 光學目鏡:10X
◆ CCD傳感器:300萬像素
◆ 顯示屏:11.6寸平板顯示器,帶測量功能
◆ 光學調焦方式:電動調焦
◆ 掃描速率0.6Hz~4.34Hz,掃描角度0~360°
◆ 掃描控制:XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
◆ 數據采樣:14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
◆ 反饋方式:DSP數字反饋
◆ 反饋采樣速率:64.0KHz
◆ 通信接口:USB2.0/3.0
◆ 運行環境:WindowsXP/7/8/10操作系統

應用范圍


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