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X-RAY X射線熒光鍍層測厚儀

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X射線熒光鍍層測厚儀屬于菲希爾的產品，HELMUT FISCHER（菲希爾）在涂層硬度側厚、鍍層硬度測厚、材料分析、微納米硬度測試和材料測試等領域為您提供完整的產品和完善的解決方案。

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　　X射線熒光鍍層測厚儀屬于菲希爾的產品，HELMUT FISCHER(菲希爾)在涂層硬度側厚、鍍層硬度測厚、材料分析、微納米硬度測試和材料測試等領域為您提供完整的產品和完善的解決方案。
 
　　X射線熒光鍍層測厚儀產品用途：
 
　　由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和測量薄鍍層及鍍層系統，因而應用廣泛;
 
　　在電子和半導體產業里，測量觸點上薄金，鉑和鎳層厚度或痕量分析。
 
　　在鐘表和珠寶行業或采礦精煉工業中，精確分析貴金屬合金組分。
 
　　在質量管控和來料檢驗中，需要確保產品或零部件*材料設計規范。如在太陽能光伏電池產業中，光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了光伏電池的效率。在電鍍行業中，則需要測量大批量部件的厚度。
 
　　對于電子產品的生產者和采購者，檢驗產品是否符合《限制在電子電氣產品中使用有害物質的指令》(ROHS指令)也是十分關鍵的。
 
　　在玩具工業中，也需要有可靠的有害物質檢測手段
 
　　對于以上測量應用，菲希爾的FISCHERSCOPE X-射線光變儀都能*勝任。
 
　　X射線熒光測厚儀，材料分析儀也可測量金屬元素的等。
 
　　我司除了X射線熒光測厚儀還有元素分析儀，金鎳厚度測量儀，孔銅測厚儀，面銅測厚儀，涂鍍層測厚儀，臺式涂層鍍層測厚儀，銅箔測厚儀，綠油測厚儀，油墨測厚儀，各領域的測厚儀。


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