Contour GT 系列光學輪廓儀利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業界Z大視場下的Z高垂直分辨率。

    Bruker Contour GT 系列光學輪廓儀

Bruker Contour GT 系列光學輪廓儀利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業界zui大視場下的zui高垂直分辨率。儀器具備多種倍率物鏡（1.25倍-100倍），可以表征具有不同表面形狀和結構的樣品。而且在任何放大倍數下，系統的縱向范圍都能夠達到亞-埃至毫米級，其靈活性*。Bruker技術-高亮LED雙光源照明-使測量結果不管在科研還是工業環境中都具有超高的可靠性和可重復性。Contour GT系列擁有同類產品*的易用性：簡潔的操作界面通過對測量和數據獲取過程的簡化大大提高了系統和人力效率；*的可視工作流程工具提供了直觀的分析選項。Contour GT系列可廣泛的應用于：精密機械，光伏材料，電子材料，航空航天，光學材料和科研等領域。

 Bruker Contour GT 系列

Bruker Contour GT 系列利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業界zui大視場下的zui高垂直分辨率。儀器具備多種倍率物鏡（1.25倍-100倍），可以表征具有不同表面形狀和結構的樣品。而且在任何放大倍數下，系統的縱向范圍都能夠達到亞-埃至毫米級，其靈活性*。Bruker技術-高亮LED雙光源照明-使測量結果不管在科研還是工業環境中都具有超高的可靠性和可重復性。Contour GT系列擁有同類產品*的易用性：簡潔的操作界面通過對測量和數據獲取過程的簡化大大提高了系統和人力效率；*的可視工作流程工具提供了直觀的分析選項。Contour GT系列可廣泛的應用于：精密機械，光伏材料，電子材料，航空航天，光學材料和科研等領域。

 Bruker Contour GT 系列

Bruker Contour GT 系列利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業界zui大視場下的zui高垂直分辨率。儀器具備多種倍率物鏡（1.25倍-100倍），可以表征具有不同表面形狀和結構的樣品。而且在任何放大倍數下，系統的縱向范圍都能夠達到亞-埃至毫米級，其靈活性*。Bruker技術-高亮LED雙光源照明-使測量結果不管在科研還是工業環境中都具有超高的可靠性和可重復性。Contour GT系列擁有同類產品*的易用性：簡潔的操作界面通過對測量和數據獲取過程的簡化大大提高了系統和人力效率；*的可視工作流程工具提供了直觀的分析選項。Contour GT系列可廣泛的應用于：精密機械，光伏材料，電子材料，航空航天，光學材料和科研等領域。