Park XE7
創新研究的經濟之選

Park XE7
創新研究的經濟之選
 
的高性能
在同級產品中，Park XE7能夠帶來zui高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
滿足當前和未來需求
在Park XE7的幫助下，現在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業內zui全面的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來不斷變化的需求。再者，XE7具有市場上zui為開放性的設計，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。
易于使用和高生產率
Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預準直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動研究效率的提高。。
經濟實惠超越了系統成本
Park XE7不僅僅是zui高性價比的研究級原子力顯微鏡，也是使用成本zui低的原子力顯微鏡。Park XE7中所搭載的True Non-Contact™模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針*，并且它配有業內zui多的掃描模式，兼容性，讓您可隨時升級系統功能，從而延長產品的使用壽命。Park XE7配有Park Systems的所有*技術，而且價格十分親民。XE7在細節的設計上也相當用心，是幫助您準確且不超預算地完成研究的理想之選。
  
*　技術參數
 
XY掃描器

   閉環控制式單模塊柔性XY掃描器。

掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選  100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )
 
Z掃描器
柔性引導高力度掃描器
掃描范圍: 12 μm (可選 25 μm)
 
  樣品臺
  XY臺工作范圍: 13 × 13 mm
  Z臺工作范圍: 29.5 mm
  聚焦臺工作范圍: 70 mm
 
 
 光學系統
可觀察樣品和探針的直視同軸光學系統
10X 物鏡 (可選20X）
視場: 480 × 360 μm 
CCD: 1M像素（像素分辨率: 0.4 μm）
 
  電路系統
高性能DSP : 600 MHz with 4800 MIPS
 zui大圖像尺寸: 4096 x 4096像素, 16個數據圖像
 信號輸入： 在500kHz取樣時, 16位ADC的20個通道
 信號輸出： 在500kHz取樣時, 16位ADC的21個通道
 同步信號 ：圖像結束, 線結束及像素結束TTL信號
 主動Q控制(選配)
 懸臂梁彈性常數校準(選配)
 CE Compliant
 電源 : 120 W
 信號處理模塊 (選配)